我的辐射杂散测出的功率比传导测试出的功率还大，对吗？

daimengppqq · 发表于 2012-12-26 09:42:01

关注下，顺便赚点RD

a476658879 · 发表于 2013-2-3 15:55:50

9楼说的有道理.但仅仅是理论上的可能. 出现的概率微乎其微.
很想知道楼主的结论是怎么得出来的,因为我更相信是仪器差异或者是loss不准确导致的。

raymoncommit · 发表于 2013-2-2 21:55:06

good,i love this game
本文来自：我爱研发网(52RD.com) - R&D大本营
详细出处：http://www.52rd.com/bbs/Detail_RD.BBS_261599_118_1_1.html

hust_gin · 发表于 2013-2-27 10:21:32

24楼，大师啊

zoojc000 · 发表于 2013-2-21 11:58:58

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zoojc000 · 发表于 2013-2-21 11:58:37

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soszhang · 发表于 2013-2-19 09:50:45

非常正常，板子自身有可能就和往外辐射

wain5434 · 发表于 2013-2-16 16:28:59

这么老的帖子又被翻出来了，呵呵，当年的回答不太成熟哈。
现在想来天线高频的方向性对于辐射杂散的影响确实相当小，几乎可以忽略。
由于手机天线本身是一个不匹配的器件，所以很有可能造成功放的load很差，自然会增大杂散指标。（可以尝试一个实验，测出带有天线后PA的load，之后将PA传导匹配拉到与带有天线一样的位置，再测传导杂散，用之前的辐射杂散除以这个传导杂散，基本上就等于天线效率了）
还有一种情况要复杂一点，发生的可能性一般会小，就是结构件或者天线周围金属与天线构成高次谐振模（也许是这个名字，领会精神即可），假设天线发射出来的900MHz TE10模（必然不是TE10，纯为假设）但周边金属件出现了一个TE20模的谐振条件，这样自然就谐振出来一个1800MHz的杂散。自然，出现TE20的可能性不大，但是TE30、TE40等等都有出现的可能，而且每个都会让你的杂散超标，这样累加起来概率也不小了。

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