最新CDM充电模式测试方案

ESDEMC

何为CDM充电模型？
        CDM----  Charged-Device Model
       此放电模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC内部累积了静电，但在静电累积的过程中IC并未被损伤。此带有静电的IC在处理过程中，当其pin去碰触到接地面时，IC内部的静电便会经由pin自IC内部流出来，而造成了放电的现象。
　　此种模型的放电时间更短，仅约几毫微秒之内，而且放电现象更难以真实的被模拟。因为IC内部累积的静电会因IC元件本身对地的等效电容而变，IC摆放的角度与位置以及IC所用的包装型式都会造成不同的等效电容。由于具有多项变化因素难定，因此，有关此模型放电的工业测试标准仍在协议中，但已有此类测试机台在销售中。


需CDM测试的产品有那些？  
      大体分为器件和大panle

CDM测试有那几种？  
      手动测试和自动化测试

CDM手动测试方案与CDM自动化测试的区别？
      CDM手动测试通常是操作人员手动操作测试设备，与待测物进行接触测试，待测物要求尺寸足够大， 手动操作容易造成pin（器件) 的刮伤，重复性差，测试误差大。
     CDM 自动测试方法：采用机械手臂运行定位，采用高清摄像摄像定位测试点， 能对panle 及器件进行测试，能测试微小pin ，测试精度高，操作重复性高，降低刮伤的概率，

CDM测试两种测试探头介绍？
    1.  CDM 充电模型测试，是要测试与评估器件（or panle pin）在自身带电情况下，自己放电把自己击伤以至器件本身的损坏， 那么我们的测试系统，可以用于模拟不同电压下，看器件or panle pin 的抗静电能力；
    2.  那么进行CDM模拟测试时，需要probe ，现在市场上有两种probe ，分布为 Contact First CDM Discharge Head  和Legacy CDM Discharge Head；现在市场上大多用Contact first CMD Discharge Head
    3. Contact first CMD Discharge Head  测试时有个缺陷； 当待测pin 是微小型的（有一排pin）， 此head 靠近pin时会放电，从而不知道是否就是我们需要测试的那个pin的放电，
    4. Legacy CDM Discharge Head测试时，只有在head 接触到pin 时， 才进行放电测试。


各位  关于CDM测试方案 ：我们有提供最新的方法： 就是自动化的测试方案，  具体的测试方案与环境，要是感兴趣可以与我联系

billion.xiao@outlook.com   

希望就这方面与大家交流 ：