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[资料] 最新CDM充电模式测试方案

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发表于 2018-12-27 13:56:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
何为CDM充电模型?
        CDM----  Charged-Device Model
       此放电模式是指IC先因摩擦或其他因素而在IC内部累积了静电,但在静电累积的过程中IC并未被损伤。此带有静电的IC在处理过程中,当其pin去碰触到接地面时,IC内部的静电便会经由pin自IC内部流出来,而造成了放电的现象。
  此种模型的放电时间更短,仅约几毫微秒之内,而且放电现象更难以真实的被模拟。因为IC内部累积的静电会因IC元件本身对地的等效电容而变,IC摆放的角度与位置以及IC所用的包装型式都会造成不同的等效电容。由于具有多项变化因素难定,因此,有关此模型放电的工业测试标准仍在协议中,但已有此类测试机台在销售中。


需CDM测试的产品有那些?  
      大体分为器件和大panle

CDM测试有那几种?  
      手动测试和自动化测试

CDM手动测试方案与CDM自动化测试的区别?
      CDM手动测试通常是操作人员手动操作测试设备,与待测物进行接触测试,待测物要求尺寸足够大, 手动操作容易造成pin(器件) 的刮伤,重复性差,测试误差大。
     CDM 自动测试方法:采用机械手臂运行定位,采用高清摄像摄像定位测试点, 能对panle 及器件进行测试,能测试微小pin ,测试精度高,操作重复性高,降低刮伤的概率,

CDM测试两种测试探头介绍?
    1.  CDM 充电模型测试,是要测试与评估器件(or panle pin)在自身带电情况下,自己放电把自己击伤以至器件本身的损坏, 那么我们的测试系统,可以用于模拟不同电压下,看器件or panle pin 的抗静电能力;
    2.  那么进行CDM模拟测试时,需要probe ,现在市场上有两种probe ,分布为 Contact First CDM Discharge Head  和Legacy CDM Discharge Head;现在市场上大多用Contact first CMD Discharge Head
    3. Contact first CMD Discharge Head  测试时有个缺陷; 当待测pin 是微小型的(有一排pin), 此head 靠近pin时会放电,从而不知道是否就是我们需要测试的那个pin的放电,
    4. Legacy CDM Discharge Head测试时,只有在head 接触到pin 时, 才进行放电测试。


各位  关于CDM测试方案 :我们有提供最新的方法: 就是自动化的测试方案,  具体的测试方案与环境,要是感兴趣可以与我联系

billion.xiao@outlook.com   

希望就这方面与大家交流 :
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