相位噪声及其测试技术

waveshot · 发表于 2006-1-5 14:38:00

引言
--- 现代电子系统和设备都离不开相位噪声测试的要求，因为本振相位噪声影响着调频、调相系统的最终信噪比，恶化某些调幅检波器的性能；限制频移键控（FSK）和相移键控（PSK）的最小误码率；影响频分多址接收系统的最大噪声功率等。在很多高级电子系统和设备中，核心技术中往往有一个低相位噪声频率源。可见对相位噪声进行表征、测试以及如何减小相位噪声是现代电子系统中一个回避不了的问题。本文较详细的阐述了相位噪声的概念及其表征，并在分析其通用的测试技术的同时提出了一种新的测试方法——基于带通采样的中频频谱分析法。
【文件名】:0615@52RD_相位噪声及其测试技术.doc
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anyQQ · 发表于 2017-5-10 14:43:01

_本振相位噪声及其对接收机性能的影响.pdf

anyQQ · 发表于 2017-5-10 14:44:07

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anyQQ · 发表于 2017-5-10 14:44:36

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anyQQ · 发表于 2017-5-10 14:45:38

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