功能测试ADC不良

fsliupe · 发表于 2007-8-13 16:40:47

请大下指教个问题,
在功能测试里有项ADC测试发现VBAT:有37.3V,重新校准后正常(3.4~4.2)V.
可我在上次的LOG里查没有发现不良.我用MATE工具倒出的的ADC值如下:
[ADC control]
offset=-628167,-628167,-628167,-628167,-628167,-628167,-628167
slope=54793,54784,54784,54784,54784,54784,54784
请问这是不是在校准后写入时产生的?为什么会这样

stevenson · 发表于 2008-6-28 19:26:09

请高手回复!

jokertan · 发表于 2008-9-6 14:54:46

期待中～～～～[em05][em05]

SNIQVYPM · 发表于 2008-9-7 21:23:37

学习学习

stevenson · 发表于 2008-9-9 10:28:25

参数没有写进去，把ADC单独分开校准看看，检查下数据线是否有电压串进去影响ADC检测，查查硬件线路有没有问题，ADC部分和下载部分

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