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楼主 |
发表于 2006-1-18 00:28:00
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<P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>针对各位前辈解答的部分<FONT face="Times New Roman">,</FONT>尚有不解之处<FONT face="Times New Roman">.<p></p></FONT></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3><FONT face="Times New Roman">RDKiller </FONT>前辈提到<FONT face="Times New Roman">:<p></p></FONT></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>内置天线采用极化方向与直线天线平行的办法;至于平板天线就只要手机平放在天线上就可以了。原则上是要保证LOSS最小的,考虑到结构、夹具等限制因素,可以适当大点。<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>那,如果将手机直接Touch 天线方式测试,这样测试出来的结果是可以允许的吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>因为感觉手机直接Touch 天线测 似乎 失去 测试的意义.<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>因为通常整机测试放于shielding BOX内的站别,都会是在Air 的环境,如果直接<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>Touch ,那样跟板测段的测试不就重复了吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>另外,再请教各位前辈,一般业界测试流程中,整机段还会有conductive test 站吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3> 谢谢</FONT><p></p></P> |
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