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[讨论] 請教手機測試於shielding Box內

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发表于 2005-12-28 23:34:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
請教各位高手們,一般手機測試於Shielding Box內是採近場模擬遠場進行測試
那麼手機於近場環境下(shielding Box內)其擺放位置是否有所講究呢 ?
其原因是? 有所資料根據嗎?
                                                                                                       感謝!!
发表于 2005-12-29 19:31:00 | 显示全部楼层
<P>摆放的位置的确是有讲究的,而且大有讲究,</P><P>呵呵,其根据还是RF天线方面比较好的网友来解释吧,偶的说法不够专业.</P>[em01]
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发表于 2005-12-29 21:27:00 | 显示全部楼层
<P>用屏蔽盒所测的结果根本就和远场的测试结果没有关系。千万不要说“用近场模拟远场”。</P><P>在小屏蔽盒里,强烈的反射已经使场分布完全不同了,加上,近距离金属会使天线处于失谐状态,测试结果就可想而制了。</P>[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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发表于 2005-12-30 14:56:00 | 显示全部楼层
<P>这种测试一般都是防止屏蔽外界干扰。</P><P>针对主板可以不采用,对整机天线测试是需要,摆放位置与天线种类和距离有关。</P><P>一般要求手机天线和测试天线平行,距离则直接关系到损耗。</P>
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发表于 2006-1-3 10:46:00 | 显示全部楼层
<P>内置天线如何摆放手机与耦合天线的相对位置?RFLoss最小的位置吗?</P>
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发表于 2006-1-4 14:59:00 | 显示全部楼层
<P>内置天线采用极化方向与直线天线平行的办法;至于平板天线就只要手机平放在天线上就可以了。原则上是要保证LOSS最小的,考虑到结构、夹具等限制因素,可以适当大点。</P>[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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 楼主| 发表于 2006-1-5 07:20:00 | 显示全部楼层

请教手机测试于shielding Box内

请教手机测试于shielding Box内
请教各位高手们,一般手机测试于Shielding Box内是采近场模拟远场进行测试
那么手机于近场环境下(shielding Box内)其摆放位置是否有所讲究呢 ?
其原因是? 有所资料根据吗?
                                                                                                       感谢!!
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 楼主| 发表于 2006-1-18 00:28:00 | 显示全部楼层
<P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>针对各位前辈解答的部分<FONT face="Times New Roman">,</FONT>尚有不解之处<FONT face="Times New Roman">.<p></p></FONT></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3><FONT face="Times New Roman">RDKiller </FONT>前辈提到<FONT face="Times New Roman">:<p></p></FONT></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>内置天线采用极化方向与直线天线平行的办法;至于平板天线就只要手机平放在天线上就可以了。原则上是要保证LOSS最小的,考虑到结构、夹具等限制因素,可以适当大点。<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>那,如果将手机直接Touch 天线方式测试,这样测试出来的结果是可以允许的吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>因为感觉手机直接Touch 天线测 似乎 失去 测试的意义.<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>因为通常整机测试放于shielding BOX内的站别,都会是在Air 的环境,如果直接<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>Touch ,那样跟板测段的测试不就重复了吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>另外,再请教各位前辈,一般业界测试流程中,整机段还会有conductive test 站吗?<p></p></FONT></P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT size=3>                                                                                                谢谢</FONT><p></p></P>
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发表于 2006-1-18 13:17:00 | 显示全部楼层
<P>不是重复,板测和这个测试的侧重点不同,直接接触会使天线的匹配阻抗发生变化,不能检测手机的天线性能。</P><P>在业界的测试中产线是不需要<FONT size=3>conductive test 站的</FONT></P>[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>
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发表于 2006-1-20 13:07:00 | 显示全部楼层
<P>1.在实验室里的时候,我们的距离一般是保持在30CM左右.然后在测量BER.太近了是没有意思的.因为有些情况会出现.比如我遇到过一回:主板和天线的连接是卡口的,就是主板上有两个金属片,刚好和天线没有接触好.假如测试的时候靠的很近的话主板上的金属片还是在起作用的.</P><P>2.在生产线上还是要测量天线的POW的.</P>[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>
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