JTAG边界扫描与BGA电路板测试技术

mapleking · 发表于 2007-7-9 15:08:29

原理：
http://www.eaw.com.cn/Article_Print.asp?ArticleID=3689

它好像可以测量密集型芯片比如BGA芯片的连通性和状态，

我找到了专门的一个测量工具，大家可以参考一下：

http://www.bgascan.com

mrwyn · 发表于 2007-7-9 15:49:28

呵呵
类似的资料可以参考www.jtag.com
这个公司做这方面的技术比较专业
主要是基于ieee 1149.1 bondary scan的协议
现在最新的是1149.6，支持高速数字接口
1149.4是模数混合接口，
一般都是软硬件配合的，大家有兴趣可以看看
对于硬件工程师还是非常有用的工具

mapleking · 发表于 2007-7-10 10:49:37

嗯，不过毕竟是国外的公司，售后支持不太方便。

现在在国内公司好像就这一家做。

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[讨论] JTAG边界扫描与BGA电路板测试技术