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[讨论] arm系统在esd实验时遇到麻烦

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发表于 2007-6-24 14:24:13 | 显示全部楼层 |阅读模式
经过几个月的努力,产品功能设计得差不多了,那天跟同事一起去做试验,一路顺利,到了静电测试时,先打接触放电,在机壳(塑料机壳)表面及缝隙打了一圈后正常,接下来做间接耦合放电,运行灯、及其它指示灯都不正常,连续打还会死机。
研究了些esd方面的知识后,为了排除受干扰的电路,我将cpu程序停了,专写了个cpld控制各指示灯的程序,再进行干扰实验,指示灯指示正常,电路总的来说比较简单,主要芯片有ARM、CPLD、SPI接口时钟、SPI接口FLASH、SPI接口SD卡。因此实验之后我就把重点怀疑对象放在cpu(atmel公司的sam7x256)上,因为CPU的内核电压为1.8V,IO口电压为3.3V,我在电源管脚加上都加了tvs管,复位信号等重要信号也加了tvs管,可实验效果没有什么改善。
后面将CPU不重要的管脚做了割线处理,问题也没得到解决,在塑料机壳内部喷emi导电漆,情况有所缓解,但还是会死机。

实验照片地址
http://photos.i.cn.yahoo.com/album-qQLl31k8fq.nZnZd315MvsW6FLk-?cq=1&aid=789b#doc-body
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