专业的IC失效分析，精准高效的IC线路修改、故障分析及可靠度测试服务

jim_ren

本公司位于上海，提供专业的IC失效分析，精准高效的IC线路修改、故障分析及可靠度测试服务。
FIB部：提供IC电路修改工程、材料结构分析、LC液(晶)体、镭射切割、Probe点针服务、SEM分析、EDX分析服务。
化学实验课：提供Decap（化学法、特殊类封装）、层次去除、染色及码染色处理、取晶粒、IC之传统及数码拍照、
去Polymide及弹坑实验服务。
ESD测试课：提供ESD测试（HBM\\MM 模式）及Latch Up 测试服务。
可靠度测试课：提供工作寿命实验、偏压寿命实验、温湿度偏压寿命实验、高温存储实验、低温存储实验、温湿度
存储实验、温湿度循环实验、高加速温湿度压力实验、温度冲击实验－液槽式、可焊性实验测试服务。
电话：13761141384 任先生