[经验分享] 讨论手机校准的在此跟帖

marklee_

于校准，我先说点我对校准概念的理解：
由于器件不一致、温度变化、器件老化等因素的影响，即使是基于同样的平台同样的设计，也会表现出不同的电性能。为了消除这种影响，每个手机在出厂之前都要对这些参数进行测量计算得到一些参数误差数据，并把这些误差数据存储到一定的存储介质（一般为EEPROM）里，在手机正常使用过程中，CPU会读取这些数据并利用一定的算法对需要补偿的参数进行补偿。在生产测试过程中，对需要补偿校正的数据测量计算并存入EEPROM里的过程，称之为校准。
需要校准的参数可多可少，一般根据实际情况进行取舍，一些关键的影响RF性能的参数必须校准，比如对GSM手机来说，AFC、PA Offset、RXLEV、Vbat ADC等，还有一些参数各个手机差异性不是很大的不需要校准，比如温度补偿，只需对所有的手机采用统一的补偿值就行了，所以不需要每一台手机都校准。
因为GSM是比较成熟的系统，一般方案提供商在提供给Design House设计方面的资料、代码、支持的同时，还会针对自己的平台提供一些测试校准方面的文档，对涉及到芯片内部的校准基本公式进行描述，使得校准程序的开发变得相对容易些。但是，如何能更准确、更快速的校准，确需要结合手机和仪器有一套合理的校准算法。

际上如果是GMSK调制信号，而且，射频芯片做得比较好的话，DC_offset不会太大，而且对于信号解调也不会有太大影响，一般不作校准。但是对于3G，或CDMA信号，是QPSK信号，其中包含幅度调制，直流偏置影响较大。计算方法比较简单，把采集下来的IQ数据取平均就行了，平均所得的值就是DC-Offset，因为理想信号足够大量的采样点的平均应该是0，如果不是0，那就是DC-Offset。
手机批量生产要求校准时间尽可能的短，这就要求：
1。算法要高效，算法一定要考虑全面，不管什么情况都能以差不多最短的时间完成趋近。
2。优化程序。任何程序都会有很多优化的地方。同样的一个想法不同的程序效率当然不一样。


另外，关于如何缩短校准时间，还有一些补充：
1。一般情况下，校准的过程都是被测MS和测试仪器之间的一个交互过程，通过测试仪器测得的功率、频率误差等值来调整手机相应的参数，直到测得到功率、频率误差等值达到一个可接收的范围。但是，为了减轻这个交互调整的过程，并且为了节约校准时间，有一些可以用一定的经验公式、模型预测的参数不需要交互的调整过程，只需要测试一次，根据这个测量值和经验公式算的剩下的参数。这种公式或模型一般在芯片和平台提供商的Spec里可以得到。
2。还有可以牺牲校准的精度来达到缩短校准时间的效果，比如PA Offset的校准，假设需要3段直线来描述APC DAC值和发射功率的线性关系的，可以用2段直线来描述，这样就减少了一次仪器测量的过程。其实，完全准确的方法是对所有的功率电平等级都进行校准才够准确，但是没人这么做，一般只需用几段直线来描述，至于用几段就看你自己的取舍了。
3。一般来说，最费时间的是仪器PC和仪器，以及PC和被测手机之间的通信，所以在编制校准算法，以及编制校准程序时，尽量减少这样的操作。

RF Calibration 分为好多项目 GSM 手机做的最多的是 APC AFC AGC的校准，一般会选取几个典型的channel&level对于RX的校准在RSSI calibration item中,手机会在flash中写入default，之后在仪器（如8960，8820，cmu200)和测试程式的控制下运行计算，看还差多少，然后做校准，最后最测试，如果测试通过，之前的calibration就是有效的，在手机出厂后会封起来
3G，如WCDMA校准，与GSM相比稍有不同，没有GSM那么严格

一般是这样的，在4.2V时用命令读取手机ADC通道的电压值，把这个值与4.2V相减，得出补偿值，然后把这个补偿值写入手机，然后将电池电压设为3.4V，再读取ADC通道的电压值（注意此时offset值已经写入），把它与3.4V进行比较，看得出的差值是否在允许的范围内，一般有一个limit。如果合格则校准完成，存储校准数据即可