CMU测试偏差影响手机性能如何调整，怎么校准？请教高手。

allenxia · 发表于 2007-5-17 20:38:06

，测试方法是：先用金机测试每台仪器的“RF端子+金线”的TX以及RX补偿值，然后再用“CMU200＋RF端口＋金线”测试另外一台样本手机，从测试结果来看，CMU存在偏差，且偏差大的达到0.5个DB, 这种偏差将严重影响手机的射频性能，附件是测试值，

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cuijw · 发表于 2007-5-18 08:42:06

CMU在出厂或者是刚做完校准的时候状态是比较好的，对于常用的RF2端口，通常功率误差<+/-0.2db。长时间使用后肯定会变差。但实际上CMU规格书要求是<+/-0.5db（某些条件下可以<+/-1db）。
所以你说的0.5db不算什么。
关键在于你用的金线这种方法本身固有的缺陷，避免不了这个问题。用其他方法就可以解决了。

yelan168 · 发表于 2007-5-18 11:49:59

呵.你0.5db的偏差真的有很大影响吗?
还是你自己想的有影响啊.
功率偏差在+/-3dB都OK哦.

aliter1226 · 发表于 2007-5-18 16:00:29

之前也因为这样的事情烦恼过,一般的讲CMU本身的偏差可以通过线损来补偿,如果是偏差过大的话需要去对仪器做一下校准(是校准不是检测).这一点上8960就好一点,测试的精度高,稳定,耐用,两年一校准.CMU一年一校准.

yatelandis · 发表于 2007-5-19 07:48:10

版主：“关键在于你用的金线这种方法本身固有的缺陷，”
能不能说明一下有何缺陷，是不是金线的损耗或者射频头的接触不稳定造成的误差？

afanti468 · 发表于 2007-6-5 15:55:06

怎么个意思呢

liguijia · 发表于 2007-12-19 23:08:10

在校准时怎么确认线损是正常的
怎么测试线损啊

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