请问PVT底噪 辐射fail的原因是不是天线有问题?

yellowtoot

请问PVT底噪 传导pass,辐射fail的原因


测试PVT
传导测试时, 均通过, 且底噪部分的余量挺大的

而耦合测试时,小功率的底噪不过, 且刚好达到临界状态.

请问, 通常这都是什么原因造成的啊?  可不可以说是天线有问题呀?是不是它匹配不好造成的啊?

谢谢啦!

yellowtoot

<P>如果这个噪声有这么大, 那可不可以认为我主板的辐射接收灵敏度一定会很差啊?</P><P>毕竟它们都是源自主板的噪声啊, 而且全部通过天线引入的, 前者是引到CMU,后者是引到LNA.</P><P>可是偶的辐射接收灵敏度还行啊, 大概-98dBm左右.</P><P>不知 辐射 接收灵敏度 中的 主板噪声 与 PVT辐射测试出的 底噪 是不是一个东东啊<img src="http://www.52rd.com/bbs/Skins/Default/emot/em13.gif"></P><P>请高人指点,谢谢!<img src="http://www.52rd.com/bbs/Skins/Default/emot/em05.gif"></P>

yellowtoot

<P>而耦合测试时,小功率的底噪不过, 且刚好达到临界状态"</P><P>这是很正常的，因为你设置了CMU 的Loss很大（有20多db吧）</P>

yellowtoot

<DIV class=quote><B>以下是引用<I>hanerde</I>在2005-12-13 13:50:08的发言：</B>





是啊。是啊。
辐射的方法测试PVT本来就不科学。
因为测量仪表动态范围的限制，这样很大的辐射损耗将会带来很大的仪表补偿值。
你可以试试看用8960来测试一下。
有一个选项里面可以设置，增加仪表的动态范围。

是不是PS这个变态要求辐射PVT的？？</DIV>

yellowtoot

<DIV class=quote><B>以下是引用<I>hutian</I>在2005-12-13 19:07:01的发言：</B> <P>是的，传导下小功率时实际输入到仪器端口的在5dbm左右，而在耦合下经过天线和空间的损耗到达仪器检测端口时被衰减了很大（30db）从而引起仪器检测时有所区别。仪表的动态范围就很关键了

<P>还有测试pvt时，不同的功率对应不同的mask，你补偿值不一样，仪器汇报的功率也就不一样，也就会用不同的mask来”罩”。</P></DIV>

yellowtoot

<P>请天线厂家的人出来讲话啊[em08]</P><P>是天线的问题，还是CMU的问题，或是偶们手机主板的问题啊？</P><P>难道天线厂就没碰到客户有这种情况的吗？</P>

rachel

<P>得给天线厂的人先解释一下"低躁"是什么?</P>

yellowtoot

<P>他们天线厂家的人大拿[em05]</P><P>CMU用得很6</P>