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[资料] CMOS技术中的闩锁效应——问题及其解决方法

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发表于 2007-3-16 09:29:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
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【文件名】:07316@52RD_CMOS技术中的闩锁效应——问题及其解决方法.pdf
【格 式】:pdf
【大 小】:3691K
【简 介】:
【目 录】:第一章 引言
                   第二章 闩锁得概述
                   第三章 闩锁问题的描述
                   第四章 闩锁模型及分析
                   第五章 闩锁特性的测量
                   第六章 闩锁的防止
                   第七章 总结               


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