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发表于 2005-12-9 13:51:00
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<DIV class=quote><B>以下是引用<I>ayuyu</I>在2005-12-9 12:58:01的发言:</B>
"开环(天线耦合)测时,在所有信道的低功率(PCL=15)时,PVT前后两侧的底噪会超标, 而高功率不超."
从这个现象来看,应该是PA的输出和天线匹配问题。非线形PA的失真和输出功率大小没有多少关系,即便小功率输出的高阶失真也会很大。建议调整输出匹配。
</DIV>
PA到test point然后电缆直连到CMU测试PVT时, 底噪很好, 且余量很大.
PA到test point后到天线, 耦合测试PVT时,底噪差,且超标.
因此, 你断定是天线与PA匹配的问题, 对吗?
但有源测试时, 发射功率, 接收电平都是平的啊, 即天线引入的插损为0啊!!!
还能再怎么匹配啊???
请问, 你能帮着分析一下, 天线匹配不好, 怎么就能影响底噪, 而使其提高呢?
会不会是主板噪声通过天线辐射出去啦?
谢谢啦![br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p> |
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