天线辐射出的能量反射会造成频率误差和相位误差?

liu_fm2006 · 发表于 2007-1-20 11:10:45

各位大吓,天线辐射出的能量反射会造成频率误差和相位误差吗?如果会,为什么会造成,其原理又是什么?谢谢!

liu_fm2006 · 发表于 2007-1-20 11:10:45

各位大吓,天线辐射出的能量反射会造成频率误差和相位误差吗?如果会,为什么会造成,其原理又是什么?谢谢!

zzhlhm · 发表于 2007-1-26 17:53:06

buhui

liu_fm2006 · 发表于 2007-1-29 10:38:29

各位有没有遇到或听说过那种情况,大家讨论一下. 我先顶一下:我没有遇到过这种情况.

zzhlhm · 发表于 2007-1-26 17:53:06

buhui

liu_fm2006 · 发表于 2007-1-29 10:38:29

各位有没有遇到或听说过那种情况,大家讨论一下. 我先顶一下:我没有遇到过这种情况.

KFC · 发表于 2007-2-7 10:52:05

it should be, key factor is coupling path!

hlz · 发表于 2007-2-9 16:54:35

我遇到过一个例子，没有RF模块屏蔽罩时容易造成频率和相位误差，可能是干扰了Vco或相关部分，这个我不太懂。

bandi · 发表于 2007-3-28 19:34:57

不会!
你在什么环境下测试的?
造成相位不良有可能是手机内部屏蔽不好造成.还有就是使用简易耦合测试夹具测试时,外接电源对天线的干挠.

stellazhu · 发表于 2007-3-30 11:27:46

有天线存在，肯定会对其周边器件产生干扰。射频指标变差不能归咎于天线，做好屏蔽，滤波，接地差不多就可以避免这种现象了。

auhq · 发表于 2007-4-2 15:36:31

由于天线的方向性不好，会有很大影响，天线本来应该辐射出去的能量有返回到射频部分电路了，尤其是影响了PLL的环路滤波器部分，会带来很严重的相位问题！

lufen010423 · 发表于 2007-4-2 15:48:22

测试天线很多都是经验的积累。给人的感觉是理论重要能力更重要[em01]

bird2000 · 发表于 2007-4-4 11:26:56

一般芯片会解决这个问题，天线对其特性的影响目前还是可以忽略的，但是其信号通路上还是在设计的需要多考虑一点！[em01]

spama · 发表于 2007-4-16 16:53:38

设计不好会，大功率功放就比较担心频率牵引问题。
功率反射回来就类似一个环路了，严重些自激都有可能

criterion · 发表于 2013-12-19 14:55:32

stellazhu 发表于 2007-3-30 11:27
有天线存在，肯定会对其周边器件产生干扰。射频指标变差不能归咎于天线，做好屏蔽，滤波，接地差不多就可以 ...

一些可能原因 :

1. 天线Matching改变Load-pull，

可能原本Conducted时的Load-pull就没有很好，导致PA线性度不够，AM-PM不好，
但Phase error还不至于Fail。

而装上天线后

此时天线的Matching，也算在Load-pull里面，
可能天线Matching导致PA的load-pull偏掉，使PA的AM-PM变更差，以至于Phase error变Fail，
此时可以先不装天线，在天线弹片那边，接铜管做传导测试，
如果一样差，表示问题是出在天线Matching，让Load-pull跑掉。

2. 电源被干扰

基本上，若电源被干扰了，那么加不加天线，Phase error都会Fail，
但这是指干扰源来自传导讯号的情况。亦即Conducted时，其Phase error就已经会Fail了。

但是，如果干扰是来自辐射讯号呢? 虽然在频域上，RF讯号与电源相差甚远，

但以时域的波形而言，其RF讯号会载在电源输出的波形上，导致其波形上会有高频噪声。

同样的道理，也可能是Wireless的高频信号，打到I/Q走线跟XO走线，导致其波形上会有高频噪声。

检查一下Layout  看这些走线是否都有包好，电源除了要确认PA电源，也要确认收发器跟PLL的电源。
如果是PA电源或收发器电源被打到，理论上其他Tx Performance都会受影响。
如果是I/Q走线跟XO走线，或是PLL电源被打到，
理论上调制频谱也会受影响，不彷确认一下。

3. Shielding Cover的contact不够紧密

这会导致两种情况，
一种是天线的Wireless信号，会直接Leakage进去Shielding Can里面，
亦即Shielding Can遮蔽效果不佳，使VCO直接被打到，
尤其是高通架构，因此更容易有这种状况，
因为高通采零中频架构，其RF讯号的频率，跟VCO频率一样，
以致于会产生VCO Pulling现象。
而整个发射路径中，最可能的泄漏来源为PA输出端与天线端，
因为PA输出端的能量最强，因此会以传导方式干扰，
而天线端则是会直接以辐射方式干扰，使调变精确度下降，
导致相位误差，频率误差，以及EVM都会有所劣化

另一种情况，是Shielding Can有遮蔽效果，
但因contact不够紧密，导致Shielding Cover的接地不好。
任何金属，若接地不完全，等同于辐射体，差别只在辐射强度，
接地越好，则信号流到GND就越多，则辐射强度越差。
这时，整个Shielding Can  会宛如一个共振腔结构，
把残留在Shielding Cover的Wireless信号，辐射出去，打到VCO，产生VCO Pulling。

此时可以做实验，把Shielding Cover拿掉，去做Wireless的测试。
若相位误差变好，就表示是第二种情况，因为Shielding Cover拿掉，等同于破坏共振腔结构。
反之，若变更差，那就是第一种情况，因为完全没遮蔽效果。
而不管是第一种或第二种，
解决之道都是加强Shielding Cover的GNDING，亦即加强Shielding Cover与Shielding Frame的接触。

如果是第一种，这样可以加强遮蔽效果。
如果是第二种，这样可以把残留在Shielding Cover的Wireless信号，都流到GND，削减其共振腔的辐射强度。

4. 天线附近的其他金属

装上天线后，天线会先把讯号Couple到附近的喇叭，手电筒等其他金属，
然后这些天线附近的其他金属，会再以传导方式，
Couple到上述的I/Q走线，XO走线  ，收发器/PA/PLL电源。
所以若天线走线避开喇叭磁钢，做了接地处理就OK，
原因就是不让天线把信号耦合到邻近金属。
或是可以接地处理，即便讯号透过天线  Couple到附近的邻近金属，也会流到GND，
不会以传导/辐射方式，去干扰上述的I/Q走线，XO走线，收发器/PA/PLL电源。

另外，也可能因为天线Matching不好，
导致有反射讯号Couple到天线的邻近金属，然后依上述的方式，使Phase error变差。

一样，可以不装天线，在天线弹片那边，接铜管做Conducted测试，同时把天线
邻近金属移开，如果此时Phase error还是很差，那就是同1的情况，
天线Matching加进来后，Load-pull让PA的AM-PM更不好，
如果此时Phase error已有改善，那就是天线邻近金属惹的祸，
可以同上述一般，天线走线避开，或针对这些金属作接地处理。

因此与其说天线方向性不好
倒不如说天线全向性太好无线讯号会往四面八方幅射
辐射到RF电路就会出现该issue了
但不可能因此去改变天线的Pattern
因为天线的全向性  本来就是我们希望的结果
故应从接地  滤波  屏蔽  去做改善

lcchenxianlong · 发表于 2013-12-19 15:06:54

不会[em01]

d371423110 · 发表于 2013-12-20 10:37:23

好详细啊，一直学习中

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