选择无线器件测试平台的5大要素

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在考虑无线器件的最佳测试平台时，有几个原则设计工程师应予以注意：
(1) 测试的复杂性或标准——有待支持的测试次数及标准；
(2) 测试系统性能要求；
(3) 市场窗口、DUT生命周期及待测试项目的内在价值；
(4) 平台生命周期、测试的附加值及投资回报(ROI)；
(5) 对已开发的测试方案的资产保护；
目前大量正在开发的DUT结合了不止一个标准(如蓝牙、GSM、WCDMA等)。常常支持特定标准并集成到相同DUT的器件必须发挥正常功能并同时被测试。软件定义的器件也成为一个日益增加的趋势，这种器件需要被测设备之间的协议及控制链接。
最终，高速的数字方案从传统的基带处理功能缓慢开辟出自已的发展道路，朝着通过现场可编程阵列(FPGA)、高速模数转换器(ADC)及数模转换器(DAC)功能块的空中接口的方向发展。其余的RF和微波功能及相关接口所覆盖的频率范围从FM/数字广播到WiMAX及以上频段，它们具有可变和对带宽、线性度及动态范围越来越多的要求。
所有这些通常意味着需要一个具备高速数字接口和组件、高性能RF及微波功能、实时或准实时数据及控制链路的混合信号环境。
测试系统性能要求
该性能要求通常包括：参数测量的准确性及范围、低噪声特性、测试速度、混合信号接口要求、校准及已接受标准的可跟踪性、已证实的对类似测试系统环境的相关性等等。由于测试系统/方案的成本取决于选择标准及整体测试实现，因而有极大差异，需对这些要求仔细权衡。
市场窗口、DUT生命周期、测试项目的内在价值
有三种相结合的因素或许会成为最重要的选择标准。除了该显而易见的事实之外，所有的重要设备均会经历一个贬值的周期，因而会对测试系统/方案的最低生命周期提出一定要求，这也是要予以考虑的其它因素。
这些因素就是市场窗口、DUT生命周期、相关被测试标准的演化速度。专用移动无线电(PMR)标准发展较慢，而较之于迅速发展的手机及无线数据标准显示出更大的稳定性。测试项目的内在价值也是一个主要因素，因为随着技术与工艺的加速发展，即使是最看好的测试方案也有其有限的生命周期。
这就意味着要在这两种方案之间加以权衡：一种是针对具有相对有限生命周期的商用DUT的点(或盒式)测试系统；另一种是具有较高附加值、可伸缩性及可升级能力，用于解决更高层、更长生命周期DUT的测试系统。
测试平台生命周期、附加值和ROI
测试通常被视为附加值—虽然仍是成本—项目。正因为如此，它需要专门针对商用DUT作证明。
这意味着测试系统的选择应该在每一个DUT基础(也考虑DUT的整体数量和不同类型DUT)上进行优化，测试的附加值必须极大地超过平台生命周期的相关成本。
保护已开发的测试方案资产
与测试系统/方案相关的部分投资是设计工程师必须开发用来集成测试系统及DUT的测试环境。通常该环境的开发需要一段时间，并且某种程度上取决于DUT要求、与特定公司标准相关的流程及工艺、设计工程师的经验及专业水平。在这种情况下显然就存在强烈投资于易更新及升级的测试系统的愿望，而无须不断改变整体测试环境。
最佳平台选择
让我们再思考一下所有的平台(从最基本及具基本功能到最复杂和最佳的平台)，从而说明可向当今用户提供的各种可能选择：
(1) COTS卡—基于计算机/服务器；
(2) 单盒方案—完全集成；
(3) 单盒方案—模块；
(4) 传统的架和堆方案—基于仪器；
(5) 模块化平台(如PXI、cPCI等)—开放式(可以是虚拟或合成的)；
(6) 虚拟仪器—基于软件/工具；
(7) 真正合成的仪器—基于软件/测量；
(8) 感知仪器—基于一体化系统/DUT自适应/软件/测量。
尽管不存在纯粹科学和严格的方法来评估并确定最佳平台，使之获得最高ROI、寿命及最大用户满意度，但仍有可能了举一到两个例子描述我们的最佳方案。
如果DUT是一种商品，那么，市场窗口就很小；如果最为关心的不是较高测试性能，那么，COTS卡或基于单盒的测试系统就可能是最佳选择。选定该方案，设计工程师会仍保持一些升级的自由(补充仪器卡和用于COTS的软件及用于单盒的大部分软件)。然而，就这些测试系统可增强到何种程度以满足更为严格的DUT测试要求而言，该方案仍有其局限性。
如果DUT更为复杂，具有更长生命周期、更高系统性能及覆盖更广泛市场窗口的更多测试特性，那么，模块化及综合实现方案当然提供一种更为鲁棒和弹性的解决方案。
图1给出了如何利用某些测试要求及特性来选择测试平台以满足广泛的指定DUT及用户需求的概念性解释。