低噪放测试问题

hua0021 · 发表于 2006-8-7 09:06:00

做了一个单片3GHz的低噪放，单片测试不错，放在腔体测试时，驻波严重恶化，腔体盖子都盖上了，但是要将手指压在盖子上，并且有一定力度时，驻波会变得很好，请问各位，这是接地的问题还是射频泄漏的问题了，有什么好的解决办法么，谢谢大家。

fransesco · 发表于 2006-8-7 15:29:00

有可能接地不好

bird · 发表于 2006-8-11 19:26:00

会不会是震荡了呢?

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