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发表于 2006-8-15 10:14:00
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这样的讨论应该越多越好,手机测试也是需要深厚的理论功底的
我也抛砖引玉,通话中电流,耦合与传导,我认为应该分不同的制式对待
原因:天线耦合的稳定性
1)GSM
GSM,耦合与传导我认为是没有区别的
GSM我们可以设定一个稳定的PCL,不管发送到8960有多少损耗.手机内部,PA-->ANT;PA-->RF损耗是基本一致的.PA-->ANT只多了一段RF-->ANT路径,损耗非常的小
2)CDMA
CDMA,耦合比传导要高一些
CDMA发送功率受cell power影响很大,耦合时功率损耗非常不稳定,往往路径损耗会加大,比如手机的位置稍稍变动,RX路径损耗增加,发送功率变大,消耗电流增加.
但是,如果,手机的通话电流在MAX Power状态进行,这个时候,关系就不大了.手机已经在最大功率状态下进行,发送功率稳定
一家之言,欢迎探讨.还是想说两点
1.手机测试不是谁都可以做的,需要深厚的理论和经验
2.对于测试本身而言,实践是最好的解决办法
今天有时间我会验证一下,再探讨.[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p> |
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