传导灵敏度时好时坏的现象

keroro2000 · 发表于 2018-4-21 00:04:03

请问大家有遇过测试传导灵敏度时
时好时坏的现象吗?

我目前有个wifi产品,在测试传导灵敏度时
会出现时好时坏的现象,整个5GHz频段,每个RF路径都变差
可能这次测试很好,下次测试就变差2~4dB

我都在屏蔽室或屏蔽箱里测试
应该不是外界干扰吧
还是板子本身有噪声
但是为何有时测试都是正常的?

我有怀疑过是不是过热造成,因为变差时,先断电放一阵子,再测试可能就正常了
但是我摸板子并不烫,RX的功耗也不高阿,而且有加heat sink
有时候就算没加heat sink,也不会劣化

测试仪器或是线材都换过,也一样会发生
难道是屏蔽室隔离度不够好?

这样我调整组件时,不知道是本身匹配问题,或是噪声再干扰灵敏度
郁闷啊[em10]

criterion · 发表于 2018-4-25 16:23:19

有可能是PA跟LNA的Timing有问题
以Qorvo的QM48858为例

有内建PA跟LNA  用SPDT来切换TX/RX模式

其Timing Diagram如下:

很明显看到当LNA启动时 PA是关闭的也不会有发射讯号输入到PA

但若时间上有重合  亦即发射讯号与接收讯号同时存在

其发射讯号就会透过SPDT有限的隔离度，干扰接收讯号
以至于灵敏度变差
但因为不是整段时间都重合只有一小段时间重合
亦即只有重合的那一小段时间灵敏度会变差其他时间灵敏度是好的
所以灵敏度时好时坏

a3625619000 · 发表于 2018-4-25 18:29:35

criterion 发表于 2018-4-25 16:23
有可能是PA跟LNA的Timing有问题
以Qorvo的QM48858为例

求大神指导下如果是LTE FDD band1传导测试的时候也出现了这样灵敏度时好时坏的情况可能会是什么原因引起的呢？
还有一个问题就是在过认证测试的时候，band1 10M带宽灵敏度是pass的，自己这边测试10M的也有2个多db的余量，但是认证测试15M和20Mfail了，这个又是怎么回事呢？

谢谢啦

keroro2000 · 发表于 2018-4-25 20:11:41

感谢criterion大神指导,我使用的平台是高通+FEM(PA/LNA/Switch)

PA/LNA启动时间重迭我不是没想过
但是我是在test mode (非信令)下测试,照理说我用QRCT或QSPR测试灵敏度时,PA只会一直保持关闭不会开启吧?
所以我后来就没去怀疑他了

另外请教一下,若板子自己有噪声,那噪声会一直存在使得灵敏度一直都很差.
还是说即使有噪声,也不一定会一直存在,所以灵敏度可能时好时坏?
出现变差的信道,其实有点不太固定,
但是某些板子测出来则是固定某些信道与速率下会变差,都没看到变好过.

还有变差时,其实还是符合IEEE规格,只是比起最好的板子(也是公版的极限)还差,作为RD样品,这样是无法接受的.若是量产少数变差但仍符合规格,那就好办了

UNISTAR · 发表于 2018-4-27 09:20:18

a3625619000 发表于 2018-4-25 18:29
求大神指导下如果是LTE FDD band1传导测试的时候也出现了这样灵敏度时好时坏的情况可能会是什么原因引起 ...

兄弟你的FDD BAND1接收发现什么问题了么，我也遇到这个问题，LTE BAND1的5M 10M 20M的接收测试出来都是-88左右，好的时候能测到-91,不同时间去测试而已

a3625619000 · 发表于 2018-4-27 18:36:59

UNISTAR 发表于 2018-4-27 09:20
兄弟你的FDD BAND1接收发现什么问题了么，我也遇到这个问题，LTE BAND1的5M 10M 20M的接收测试出来都是-8 ...

没有啊暂时发现射频电路旁边的电容有些干扰，包起来以后好了一点，但是还是有其他的干扰

criterion · 发表于 2018-5-2 16:38:32

keroro2000 发表于 2018-4-25 20:11
感谢criterion大神指导,我使用的平台是高通+FEM(PA/LNA/Switch)

PA/LNA启动时间重迭我不是没想过

理论上  用QRCT 非信令下测RX  PA是关闭的没错
但保险起见
你把TX Power弄成0 dBm再去测  看现象是否依旧

噪声是一直存在还是时有时无这个要看其Duty Cycle
这可能要跟基频工程师讨论

但重点是得先知道你要问哪个数字讯号
看是MIPI  还是HDMI  还是USB
你是传导就有问题  以硬件角度就是Layout
你可以从天线头往WCN芯片  一段一段排查
看问题是出在哪一段你就去查那一段的Layout

如果是WCN芯片输入端  就有问题了
那就要确认是否遵守WCN的Layout Guide
若有  要嘛物料问题要嘛软件问题

keroro2000 · 发表于 2018-5-14 01:43:32

感谢大神再次指导

PA/LNA使能讯号我有去量测,

看起来无重迭,不会同时开启

RF Layout方面,我是复制前人专案的,只有微调

最大差别是电源平面改变较多

我要再比对

因为此现象不常出现,所以很难重现去做实验或验证

另外此批打样时PCB出现爆板

已经挑出目视有爆板的PCB

但其他会不会有潜在肉眼看不到的爆板,导致电路不稳定?

recher · 发表于 2018-5-26 16:28:10

keroro2000 发表于 2018-5-14 01:43
感谢大神再次指导

PA/LNA使能讯号我有去量测,

楼主可以说试试扣上RF cable后再开机测试，因为开机过程会有RXDCO calibration，如果校准fail其结果不会写入寄存器，查找空白表就会出现灵敏度异常的问题

52RD网友 *发表于 2018-6-4 12:33:02* · 发表于 2018-6-4 12:33:02

不太懂你说的RXDCO calibration是什么原理,但是我都是先扣好RF cable再测试.
已经做过很多实验,目前倾向是因为PCB有噪声,造成灵敏度有时会变差,在耦合灵敏度测试时会更明显.

keroro2000 · 发表于 2018-6-4 12:33:50

不太懂你说的RXDCO calibration是什么原理,但是我都是先扣好RF cable再测试.
已经做过很多实验,目前倾向是因为PCB有噪声,造成灵敏度有时会变差,在耦合灵敏度测试时会更明显.

keroro2000 · 发表于 2018-6-4 12:36:37

不太懂你说的RXDCO calibration是什么原理,但是我都是先扣好RF cable再测试.
已经做过很多实验,目前倾向是因为PCB有噪声,造成灵敏度有时会变差,在耦合灵敏度测试时会更明显.

tzq10170057 · 发表于 2018-12-7 11:30:20

楼主的问题后面有明确的结论了吗？

shzhf0824 · 发表于 2019-4-29 10:27:06

你们讲的太专业了，安全看不懂，好好向你们学习

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