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[讨论] 手机为什么要测试desense?

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发表于 2016-8-17 10:31:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
以下是个人理解,有不对的地方请大神们解答一下。
我们测试Desense是为了解决干扰耦合灵敏度因素,避免在测试耦合阶段出现耦合灵敏度不过现象。但是在我测试过程中就发现一些让我无法理解问题。
以camera Desense为例,测试屏灭灵敏度-107dbm,打开camera-102dbm,屏亮暗屏-104dbm,(要求干扰不超过-3dbm),我认为这个干扰是不正常的,但是研发认为是正常的是打开camera与屏亮暗屏对比。我们看干扰不是看屏灭和打开Camera的干扰么?
发表于 2016-8-17 11:16:57 | 显示全部楼层
这两个都有干扰嘛
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 楼主| 发表于 2016-8-17 11:24:41 | 显示全部楼层
rxkinglove 发表于 2016-8-17 11:16
这两个都有干扰嘛

是的。
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发表于 2016-8-17 11:44:06 | 显示全部楼层
这个还看个毛,让射频先把屏干扰搞好,再来测camera干扰
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发表于 2016-8-17 20:02:09 | 显示全部楼层
camera和亮屏干扰要分开搞吧。
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发表于 2016-8-18 15:45:19 | 显示全部楼层
屏和CAM在手机这类型产品中,都是重要的干扰源,一个一个的分析和解决,针对不同部件的De-sense分别能够控制在3db内,即可
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发表于 2016-8-24 08:37:20 | 显示全部楼层
camera和屏幕都是主要干扰源,尤其是屏幕;测试时需要单一测试不同干扰开启时候的灵敏度,但作为研发也应该考虑正常用户模式的状态,就像楼主说的camera和屏亮的干扰,正常我们使用手机时,camera打开,屏幕一定是亮着的,所以需要评估这样的情况。
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发表于 2016-10-31 12:52:20 | 显示全部楼层
看看评论,学习
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发表于 2016-11-9 15:19:45 | 显示全部楼层
学习了  谢谢
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发表于 2016-11-16 17:25:24 | 显示全部楼层
测DESENSE的目的主要是解决弱信号掉话问题,因为OTA测得只是首中末信道。干扰分两种:整体回退和部分频点回退。整体回退就要找干扰源甚至改主板。单点回退可以通过软件改LCD驱动MIPI速率来解决
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发表于 2016-11-23 12:01:09 | 显示全部楼层
看楼主发帖,看楼上回复也是一种学习。
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