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[讨论] 关于CIT测试的目的

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发表于 2006-7-1 00:23:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
我一直以为生产测试CIT的主要作用是测试手机天线的.不过今天听说CIT的主要目的是测试天线装配是否完好.这种的前提是手机天线的性能是好的.
请问大家在生产中的CITC是怎样控制的.特别是LOSS补偿
发表于 2006-7-3 10:57:00 | 显示全部楼层
<P 0cm 0cm 0pt">在生产过程中有<FONT face="Times New Roman">2</FONT>种测试方法:</P><P 0cm 0cm 0pt; TEXT-INDENT: 21pt; mso-char-indent-count: 2.0">对要求质量不是很高的手机,采用粗测,手机和测试仪器(<FONT face="Times New Roman">8960</FONT>,<FONT face="Times New Roman">CMU200,CMD55</FONT>等)建立连接,把手机放在一定的位置,通过耦合天线,能达到一定的功率等级即可。</P><P 0cm 0cm 0pt"><FONT face="Times New Roman">    </FONT>对要求较高的手机厂家,采用屏蔽箱,内置支架固定手机,通过软件控制测试边带,中频带的<FONT face="Times New Roman">TX POWER/RX LEVEL/RX QUANLITY</FONT>等指标。</P><P 0cm 0cm 0pt; TEXT-INDENT: 21pt; mso-char-indent-count: 2.0">对于<FONT face="Times New Roman">LOSS</FONT>,生产初期一般采用金机测试并设置<FONT face="Times New Roman">LOSS</FONT>值,量产时可以对产品采样统计设置,不过后种方法有一定的风险。</P>
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发表于 2006-7-4 10:37:00 | 显示全部楼层
<P>[em06]个人感觉量产的是后主要是看装配有没有问题,天线本身的质量要天线厂去保证。</P><P>GSM/DCS/PCS : 8/12/17  ??</P>[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>
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 楼主| 发表于 2006-7-5 00:02:00 | 显示全部楼层
那怎样判断耦合器的好坏呢?
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