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[讨论] 关于终测中的一些FAIL

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发表于 2006-6-22 10:01:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
我公司做的是MTK手机,在做终测的时候有几项不良而且很普遍,还请教大家
1  在校准的时候,我们没有屏蔽箱,校准OK的板子组装成整机做终测时候会出现114 RX LEVEL,115 CLASS2   FAIL ,  重新校准一下,则全部OK
2   同样是校准OK的板子,在组装好后做整机终测试出现 112FAIL
spectrum due to switch +/-1.8M   FAIL    重新校准做终测后,全部OK
疑问如下:1 在校准的时候没有屏蔽,是否有影响?影响什么参数?
                2 在校准的时候是否有校准切换频谱? 切换和调制在校准这一站是怎么处理的?
发表于 2006-6-22 13:06:00 | 显示全部楼层
<P>1.你做几个简单的实验不就知道了</P><P>2.没有直接的项目,应该在APC里面,在cal.ini中有Powerramp的设置,可以试一下</P>
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发表于 2006-6-22 21:57:00 | 显示全部楼层
<P>RX LEVEL 一般和板测的线损补偿有关吧</P><P>开关频谱我们生产遇到这样的问题,更换射频头后改观不少</P>
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发表于 2006-6-23 08:05:00 | 显示全部楼层
楼主用的是CMU还是8960,在RFLoss的设置上是不一致的,也会出现第一个问题
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发表于 2006-6-23 21:26:00 | 显示全部楼层
用CMU或8960,测试的时候会有什么样的区别,楼上的可以介绍一下吗?
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发表于 2006-6-26 08:30:00 | 显示全部楼层
<P>例如对于GSM</P><P>对于CMU,可以设置一个RFLoss,就可以针对GSM内975~1023、1~124设定,不需要针对每个TCH的In、Out进行设置(虽然效果不好、严格意义上不应该这么做)</P><P>对于8960,需要对每个使用的TCH的In、Out分别设置,不能使用一个值进行代替</P><P>所以8960对于RFLoss相对稍微麻烦一些</P>
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发表于 2006-11-28 18:54:00 | 显示全部楼层
[em08]希望楼上的大侠们能多发表这方面的问题,以及怎么解决方案``
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发表于 2006-11-30 11:43:00 | 显示全部楼层
the fixture issue
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发表于 2006-12-3 15:12:00 | 显示全部楼层
这样的问题很多平台都有,如果校准和综测是在一个工位上面完成的,那么就不存在cable loss的问题.可能引起的原因有二:

1,干扰,这是一定要查清楚的,尽量使用屏蔽箱进行测试.
2,校准不稳定.校准的时候速度太快,可能仪器或者手机还没有进入稳定状态,程序就开始读值,这样计算出来的数据肯定是不准确的.再进行一次校准,可能刚好就读到了稳定的值,所以会出现部分手机随机FAIL的情况.[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>
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发表于 2008-8-14 23:56:00 | 显示全部楼层
很支持楼上的看法,干扰有很大关系!终测时可以换一个信道的
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发表于 2008-8-16 14:45:00 | 显示全部楼层
谢谢6楼的大哥,今天总算明白了8960和CMU200的RFLOSS设置是不一样的.
我在以前校准金机的时候用CMU只补900和1800就好,
而8960就要针对每一信道来补,要不测试出来的值就有偏差.
我一直以为是射频线的问题.
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发表于 2008-9-10 07:34:00 | 显示全部楼层
这个难搞啊!
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