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【6月2日 | 深圳】2016 KMF 是德科技测试测量大会(无线射频、智能硬件、VR/AR等)

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发表于 2016-5-18 17:55:24 | 显示全部楼层 |阅读模式
会议时间:6月2日  (签到将于 8:00 开放)
会议地点:深圳益田威斯汀酒店
会议地址:深南大道 9028-2 号(世界之窗正对面)

会议简介
是德科技诚挚邀请您参加一年一度的电子行业和测试测量领域盛会。会上针对大数据时代的基本组成元素:无线射频、智能硬件、通信设备、器件、材料与半导体,我们为您准备了一天的精彩日程。现场还有测试测量技术演示、VR 体验、在线游戏活动等您参与。今年特设的创客空间将给您展示由创客开发的富有开拓性思维的产品。请提前注册,计划好参会行程。

日程安排

主题演讲威斯汀宴会厅
时间        主题
08:00 ~ 09:00        签到与现场活动
09:00 ~ 09:10        欢迎致辞
09:10 ~ 10:50        泛物联网与云计算时代的技术洞察与测量新视野
10:50 ~ 11:10        休息
11:10 ~ 11:40        先进制造业与高效能源研究中微纳表征
11:40 ~ 12:00        仪器生命周期的全方位服务
12:00 ~ 13:00       
午餐

在上午的主题演讲中,我们与您分享专业技术经验以及测试测量建议。你将了解到:

智能手机中采用的载波聚合、VoLTE 和Type-C 等最新的技术,VR/AR、智能家居在内的新型硬件的关键测试项目;
第五代移动通信5G 在挖掘频谱效率、提高吞吐量和提高流量密度方面研发和测试带来的巨大挑战;
应对数据中心和网络中心的高速数字接口、光通信、调制和解调的设计难题和测试挑战。
我们不仅仅是标准的遵从者,更是标准的共同制定者。是德科技是业界横跨仿真、高速数字、光和无线技术领域的测试公司,无论您何时需要,都可以获得是德科技最有效的帮助。

测量技术专题讲座

时间        主题
物联终端与智能硬件测试讲座1 号宴会厅
13:30 ~ 14:10        VoLTE 以及如何优化LTE 终端数据吞吐率
14:10 ~ 14:50        低功耗WAN 及NB-IoT 测试技术
15:10 ~ 15:50        USB-PD/Type C 设计挑战和测试测量方案
15:50 ~ 16:30        智能硬件电源管理和无线能源传输测试
云计算与通信设备测试讲座2 号宴会厅
13:30 ~ 14:10        PAM4 信号的产生与分析
14:10 ~ 14:50        高速数字信号完整性的仿真与测试更新
15:10 ~ 15:50        多天线幅相一致性和MIMO 测试解决方案
15:50 ~ 16:30        增强型LTE-A 基站收发测试
器件、材料与半导体测试讲座1 号露台会议室
13:30 ~ 14:10        灵活应对多端口器件的高速发展趋势-PXIe 模块化网分助力高吞吐多站点测试
14:10 ~ 14:50        是德科技材料测试大解密-介电常数和磁导率从低频到THz 的穿越
15:10 ~ 15:50        半导体器件全参数测试方案及器件建模
15:50 ~ 16:30        是德科技完整的微纳表征解决方案—针对半导体和微电子行业研发领域
特色体验活动

测量技术演示区:欢迎莅临是德科技展区,体验前沿的测试测量技术。除了近距离接触是德科技针对不同应用方向的演示,演示区测试测量工程师会为你解答平时遇到的各种问题。

互动游戏区:在此区域可以参与在线游戏和 VR 体验。我们为在线游戏获胜者提供比赛奖品,VR 体验让你换一种方式感受是德科技的科技魅力。

创客空间:敬请光临创客空间,各类智能硬件和软件的开拓性创新集中展示,期待思想的火花和交流。

课程反馈与抽奖:当天会议课程结束前完成在线反馈,您便可自动获得抽奖资格,有机会在活动结束后在签到服务台领取各种精美奖品。您可在签到服务台了解完整的抽奖规则。


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