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[讨论] 求助:LTE 灵敏度测试困惑

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发表于 2016-2-24 22:34:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
悬赏5RD币未解决
手机单板灵敏度产线传导测试中,主集接收测试有问题,某个频段中低信道测试正常,可以到-99dBm,但是高信道较差,只能到-97dBm,并且晃动RF测试探针,高信道灵敏度测试值跳动很大,好的情况下也可以测试到-99dBm,分集灵敏度则高中低信道没有差别,均在-99.5dBm左右。同事分析说是RF探针与单板RF座子接触不良,导致接地不良,而灵敏度测试与接地有关,但是具体也不是很清楚;单独分析RF探针接触问题也不得要领(因为其余频段都很正常)。疑问:灵敏度与接地情况是否有关,原因是什么?接地情况是否又分高中低信道之间的差异(跟信号频率相关)?请各位大侠不吝赐教,非常感谢!

发表于 2016-2-25 09:20:55 | 显示全部楼层
谈谈我的看法,欢迎大家指正:
1·排除其他干扰,需要在屏蔽环境下进行测试,摘掉所有配件只剩下板子进行测试
2·焊接一条铜管出来测试,这样就回找到问题点
3·或许,高频不收敛。
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发表于 2016-2-25 10:30:22 | 显示全部楼层
哪个平台,哪个BAND?
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发表于 2016-2-25 10:38:27 | 显示全部楼层
可以直接焊上 cable去测试。看还有这样的问题没。

确实出现过 射频connector 接地不好导致灵敏度差
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52RD网友  发表于 2016-2-25 11:40:26
有屏蔽盒吗
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发表于 2016-2-25 13:35:07 | 显示全部楼层
单板RF座子与射频线接触不良造成的
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发表于 2016-2-25 13:55:43 | 显示全部楼层
板子接地不好都可能影响
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发表于 2016-2-25 16:15:57 | 显示全部楼层
二楼给的思路很清晰,可以按着这个思路排查下去,顶二楼!
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发表于 2016-2-25 17:01:50 | 显示全部楼层
先测试好无源是不是正常?
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发表于 2016-3-19 10:51:55 | 显示全部楼层
二楼威武!
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发表于 2016-10-27 09:09:12 | 显示全部楼层
路过帮顶,拿分走人。
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发表于 2016-10-31 17:32:56 | 显示全部楼层
路过看看,学习了
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发表于 2016-11-3 23:49:50 | 显示全部楼层
断开RF Connector与天线匹配  再测试一下 就能判断是否是RF底座焊接不良
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