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[讨论] 谁能解释一下boundary scan啊

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发表于 2006-5-31 16:57:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
谁能解释一下ASIC中的boundary scan的基本原理、作用啊?谢谢!
发表于 2006-6-1 13:52:00 | 显示全部楼层
<P>iEEE,1149.1就是JTAG标准</P><P>最简单的理解,就是在所有芯片管脚的输出,放一个边界扫描的细胞,平时的输出是内部逻辑控制</P><P>当进入边界扫描模式的时候,由边界扫描控制器来控制,每个边界扫描细胞是串联的,从芯片的TDI输入</P><P>最后是TDO输出, 边界扫描控制器支持简单的几个模式,比如bypass,extest等等</P><P>关键是思想,在边界扫描的模式下,内部逻辑无效,由边界扫描控制器管理芯片</P>[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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 楼主| 发表于 2006-6-1 18:47:00 | 显示全部楼层
<P>谢了!</P>
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发表于 2006-6-11 20:38:00 | 显示全部楼层
<P>长了见识了!</P>[em02]
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发表于 2006-9-7 13:02:00 | 显示全部楼层
boundary scan 即边界扫描,主要是通过4个信号 TDI(Test Data Input) TDO(Test Data Output) TMS(Test Mode Select) TCK( Test Clock) 来检测JTAG元件,一般是通过 BoundaryScan Chain 来 检测一条链路上的元件, 通过输入 TDI 给元件得到输出TDO,再于标准的TDO比较得出结论,如输入TDI让元件输出其ID CODE, 再与其标准的ID Code相比较,如果一致则元件功能OK。这个测试主要是针对现在有很多元件无法用ICT覆盖到,则需要用Bounday Scan 来cover。[em10]
说的不好请谅解[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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