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[讨论] 8960测试EDGE 1down2 UP Burst Capture Range 选择

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发表于 2013-11-14 10:34:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
8960测试EDGE 1down2 UP(连续两个slot,1个选PCL8,一个选择PCL19) Burst Capture Range 选择single是pass,选择ALL是fail,主要表现为,PCL19的burst的下降沿高了。
有哪位大神知道Burst Capture Range 选择single或all的区别?以及此时手机的工作状态?为什么低噪高了?

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发表于 2013-11-14 13:15:08 | 显示全部楼层
我也遇到过,换用CMU200就没有这种问题,怀疑是不是8960本身的bug
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发表于 2013-11-14 19:21:45 | 显示全部楼层
8960动态范围问题,8和19功率级相差这么大,且还要准确测量底噪,要求太高,仪器达不到要求。并且8和19功率级同时使用,这种场景应该没有吧
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发表于 2013-11-14 21:47:54 | 显示全部楼层
这种test case蛮少见的. 实际使用中, 前后两个burst level应该不会相差这么大的.
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 楼主| 发表于 2013-11-15 10:25:53 | 显示全部楼层
3GPP13.17.3有这个测试要求
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发表于 2013-11-18 15:35:10 | 显示全部楼层
wang871224 发表于 2013-11-15 10:25
3GPP13.17.3有这个测试要求

可以确定是8960的动态问题

CMU200没问题是因为在第二个slot后面的底噪部分没设限制,可以仔细看下他的limit线
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发表于 2013-11-18 15:36:47 | 显示全部楼层
不过楼主确定规范里要求的PCL8和PCL19这个组合吗?看过某公司的测试SPEC没有最高和最低的组合。
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 楼主| 发表于 2013-11-22 17:23:59 | 显示全部楼层
要求连续两个slot,第一个是MAX PCL第二个是MIN PCL
具体可以查看3GPP13.17.3.4.1.2.E
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