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[讨论] 手机低温射频性能变差,请教原因?

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发表于 2006-5-19 14:00:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
手机在零下20度放置4小时,测试有线射频性能
,发现发射功率只有31(GSM);28(dcs)。误码率根本就读不出来。
清高手分析一下,什么原因导致
发表于 2006-5-21 22:52:00 | 显示全部楼层
<P>会不会是系统时钟的温度补偿与校准没有做好,所以导致在低温的时候系统时钟频率不准,或者是晶体振荡器不满足要求。</P>[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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发表于 2006-5-22 12:44:00 | 显示全部楼层
<P>在没有器件不良引起的情况下,个人理解原因有:1. 校准与温度补偿不对 2. 温度检测电路的灵敏度较差 3. 软件设置不对</P>
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发表于 2006-5-22 16:48:00 | 显示全部楼层
不知楼主用的是什么晶体晶振。指标性能能达到-20‘C~+70’C吧?
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发表于 2013-7-5 17:17:00 | 显示全部楼层
<B>以下是引用<i>oscillator</i>在2006-5-22 16:48:00的发言:</B>
不知楼主用的是什么晶体晶振。指标性能能达到-20‘C~+70’C吧?



有可能喔
因为不同的温度
会对应到不同的震荡频率
所以震荡频率会因温度而频偏
若发射讯号的频率偏移,
当然量出来的Power  有可能偏小


<img src="attachments/dvbbs/2013-7/20137517163110555.jpg" border="0" onclick="zoom(this)" onload="if(this.width>document.body.clientWidth*0.5) {this.resized=true;this.width=document.body.clientWidth*0.5;this.style.cursor='pointer';} else {this.onclick=null}" alt="" />

所以若要确认是否这因素   可以先看此时Frequency error  是否变大

若是的话   
就K一下XO  把FT Curve再校准一次  然后再测一次

一般而言  VCTCXO的温度承载范围  比单纯的XO较窄
因此再来先确认一下   你的VCTCXO/XO  能否承载到-20度

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发表于 2013-7-7 22:32:39 | 显示全部楼层
是低信道么,SAW的温飘考虑没
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发表于 2013-7-8 17:48:53 | 显示全部楼层
首先说一点,温箱-20度,手机温度应该还会高些,晶体在这个温度下工作应该不会有什么问题。

其次是功率问题,温度低功率应该是上升,但是你这个功率还降低那么多,可能是温补的问题。但是温补一般又不会差太多,看看是不是温度值读错了。

曾经遇到过读的温度值是错的导致温补值完全乱掉的情况。
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