关于CMW50综测仪出现GSM GMSK不良的问题，求各位前辈指点

anjingweixiao

我们在产线进行量产时，在进行RF手机测试时用的是CMW500和CMU200，如果仪器长时间进行测试（一般在1-2天后）CMW500仪器对应的测试端口，测试程序会出现大量 Get Dymamic Peakpwr Error ，GSM GMSK TX Cal Loop Count over 40CH 不良，导致无法生产，（所有CMW500都会对我们生产的个别机型都会出现此类情况，仪器自检后也没什么问题，而CMU200不会出现此问题）求各位经验丰富的前辈指点下啊，下面是测量数据（F就表示在那一项测试不良）<img src="attachments/dvbbs/2012-12/2012129116941432.jpg" border="0" onclick="zoom(this)" onload="if(this.width>document.body.clientWidth*0.5) {this.resized=true;this.width=document.body.clientWidth*0.5;this.style.cursor='pointer';} else {this.onclick=null}" alt="" />