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[讨论] 全扫描结构可测性设计方法的研究

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发表于 2006-4-29 14:45:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:06429@52RD_ME02Jun2.rar
【格 式】:rar
【大 小】:138K
【简 介】:摘要:探讨了在12345626软件中用全扫描结构实现数字电路可测性设计中遇到的问题及解决方法,如扫描结构的基本结构、测试的时序等问题。扫描结构对电路本身的结构有严格的要求,重点讨论了扫描结构对电路结构的限制及对违反限制的电路进行修改的方法。
关键词: 数字电路:可测性设计;扫描结构;设计规则
【目 录】:


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