台湾成功大学的 vlsi testing 讲义

Olive · 发表于 2006-4-27 16:59:00

【文件名】:06427@52RD_1.rar
【格　式】:rar
【大　小】:1714K
【简　介】:包括的内容
Introduction
•Fault Modeling
•Fault Simulation
•Test Generation
•Design for Testability
•Boundary Scan
•Built-in-Self-Test
•Memory Testing
•IDDQ testing
•CPU Tesing
•System-on-a-Chip Testing
•Analog Testing

【目　录】:无目录

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[IC设计资料] 台湾成功大学的 vlsi testing 讲义

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