ARM JTAG调试原理

Nellie

【文件名】:06427@52RD_ARM[1].JTAG.调试原理.rar
【格　式】:rar
【大　小】:453K
【简　介】:这篇文章主要介绍ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESSPORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍，在此基础上，结合ARM7TDMI 详细介绍了的JTAG 调试原理。
这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解ARM JTAG 调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG 的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地方，希望精通JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
【目　录】:
1 前言
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
3 ARM7TDMI 调试构架
4 ARM7TDMI 调试原理
5 总结