改善MEMS加速計高壓釜測試弊病 FA改良設計對症下藥

Tiborlee

為消除MEMS加速度計經由高壓釜測試後，因補償值改變造成封裝應力、電阻漏失與產生寄生電容變更三大失敗機制的弊端，產業界現正透過FA技術深究背後主因，並根據FA測試結果，分別提出解決之道，以強化產品的性能。微機電系統(MEMS)加速計在經過高壓釜測試後，往往有補償值變動的現象。微機械感測器所獨有的可能失敗機制有因補償值變更而導致的封裝應力、電阻漏失(Ohmic Leakage)及寄生電容變更三種。同時，也會運用故障分析(FA)技術來辨認高壓釜測試失敗的真正起因。根據FA測試的結果，進行修正動作，即藉由提出不同的設計技術，以改善產品韌性，解決高壓釜測試失敗問題。

▽恅璃靡▼:1161@52RD_蜊囡MEMS樓厒?詢葵?斜瓷  FA蜊謎偞?痌狟?.doc
▽跡﹛宒▼:doc
▽湮﹛苤▼:804K
▽潠﹛賡▼:
▽醴﹛翹▼:



[em01][em01][em01]

w6py5

谁能贡献一份手机走线规则啊，完整点的, 谁能贡献一份手机走线规则啊，完整点的

favian

Thanks for your share!!

houcheng

多謝分享 。