SOC设计与测试方法培训教材(7-9)

Lanceware

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【文件名】:0643@52RD_SOC设计与测试方法培训教材.rar
【格　式】:rar
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【简　介】:该文由浅入深的讲解了SOC设计和测试的基本方法。全文共分9部分， 该文版权归作者与McMaster University版权所有。  由<a href="http://www.EDACN.net" target="_blank" >www.EDACN.net</A>和<a href="http://www.EDACN.com" target="_blank" >www.EDACN.com</A>收集整理，仅供本站内部学习讨论。</P>
<P>【目　录】:</P>
<P>Lecture７：1.Overview；2.BIST motivation； 3. BIST process；4.BIST benefits；　　　　　　　　　　　　　　　　　　</P>
<P>　　　　　 5.BIST cost；6.BIST terminology</P>
<P>Lecture８：1.Overview；2.PCBs vs. SOCs；3.SOC test challenges； 4.SOC test 　</P>
<P>　　　　　  requirements -architecture；5.SOC test requirements -wrapper； 6.P1500 </P>
<P>                   –overview；</P>
<P>Lecture９：1.Overview；2.Memory classification；3.Memory cells per chip；      </P>
<P>                   4.Embedded DRAM graphics chip；5.Memory cell comparisons；</P>
<P>                   6.Functional RAM model
</P>
<P>


   

  
</P>
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ywt_gps

[em09]

ywt_gps

我怎么上传附件不行呢[em03]

ywt_gps

【文件名】:071019@52RD_DFT_DESIGN.pdf
【格　式】:pdf
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【简　介】:The DFT reference design performs a discrete Fourier transform (DFT) oran inverse DFT (IDFT) of a complex input sequence and produces a
complex output sequence.
【目　录】:1.introduction 2.function description 3.fixed point model