为什么用耦合箱测试整机的时候干扰被消除了，可是用暗室测试整机的时候干扰还在？

skywood · 发表于 2010-9-27 18:36:03

现在小弟有个问题：前段时间做项目的时候，低频耦合出现干扰。将FPC拔掉后在 2D模式下测试干扰消失。在3D模式下测，干扰还是存在。请问各位老大是什么原因造成的？

skywood · 发表于 2010-9-29 20:33:44

我不是问怎么消除干扰。我是问为什么用2D和3D测试的结果会不一样？

hong0012 · 发表于 2010-9-28 17:54:44

干扰TIS吗？找出哪根线，然后加缓冲

skywood · 发表于 2010-9-27 18:37:40

用多部机器验证都是这样的效果。整机为侧滑全键盘

anrayz · 发表于 2010-11-16 15:17:07

期待答案[em13][em13]

th58457049 · 发表于 2010-11-30 13:34:44

[em03][em06]没有高手……

		自动登录	找回密码
密码			注册

[讨论] 为什么用耦合箱测试整机的时候干扰被消除了，可是用暗室测试整机的时候干扰还在？