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[讨论] ADF4350锁定时间问题

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发表于 2010-8-26 11:35:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
我想问一下大家 频综芯片ADF4350的锁定时间如何测试  我们是通过读取muxout那个pin脚输出 digital lock detect信号时 的高电平 来读数  但是测试有的时候发现时间比较长 大概1000多us,而且显示锁定的pin脚连接的led灯 显示时亮时灭 不知是什么原因?大家有没有什么建议
发表于 2010-8-27 09:38:47 | 显示全部楼层
最近我也在用 4350。 感觉那个lock detect output 不是很可靠的。
有时候明显锁定了, ld 输出还是低。
查了下 手册, ld 输出条件是可以设定的。 好像是连续40个6ns 相位都不变化 然后才输出 ld信号吧。

3楼 回答是正解
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发表于 2010-8-26 20:42:59 | 显示全部楼层
1 锁定是指输出频率偏移中心在“可接受的范围”。
2 一般的PLL芯片都自带“数字锁定检测”功能。但该功能将“可接受的范围”定义得比较大。所以在测试锁定时间时,一般不能做为锁定的依据。
3 不精确测试时,可以用示波器观察VCO调谐电压“变化时间”,这个时间可以初步估算成“可接受的范围”为1MHz;到100kHz,时间X2;到10kHz,时间X3;类推。(ADF4350记得加上VCO选得时间)
4 如果条件允许,可以购买:调制域分析仪、信号源分析仪等仪表进行测试。(声明:我不是卖仪表的)
5 使用鉴相器自做测试夹具也可以测试锁定时间,但夹具制作麻烦,这儿不做介绍。
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发表于 2010-8-26 13:48:47 | 显示全部楼层
说明你们的PLL不算太稳。
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发表于 2010-9-26 20:49:00 | 显示全部楼层
现在ADF4350小数模式下,最小锁定时间是多少?
发现在100多US就小不了
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