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[讨论] EMC 不过,请大家帮忙支招

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发表于 2010-7-26 19:07:11 | 显示全部楼层 |阅读模式
小弟是做相机的,EMC 测试时在USB 传输模式不过,(从电脑中拷文件到相机内存中),附档是EMC 测试报告。
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 楼主| 发表于 2010-8-2 20:51:36 | 显示全部楼层
谢谢楼上各位的建议,在FFC 上加磁环,USB 线上加俩个磁环,USB传输模式过了,现在在TV 输出模式不行(TV 线长3M,线上有磁环,有加屏蔽)

【文件名】:1082@52RD_7.pdf
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发表于 2010-7-28 14:29:55 | 显示全部楼层
在USB的两头各加一个磁环.
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发表于 2010-7-28 14:11:32 | 显示全部楼层
FFC排线包导电布,并且两头大面积接地试试看(是不是FFC为天线)
还要在时钟线上串联磁珠和加电容到地,(最好FFC排线两头都要串联磁珠)
USB 数据线加共模电感,如果地的noise比较差,建议USB的外壳、电源等都要隔离。
USB线加磁环
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发表于 2010-7-28 09:30:46 | 显示全部楼层
长安测试的?
先不说结论
你把SD卡去掉测试再看看结果~
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发表于 2010-7-27 18:51:31 | 显示全部楼层
你这个结果很奇怪啊,你说是usb传输时候出来的噪声,但是谐波间相差确实43M,你确定这是usb的噪声吗?
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发表于 2010-7-27 18:38:34 | 显示全部楼层
看了你对LAUOUT 的简单描述,6层板,1-S,2-G,3-S,4-P,5-G,6-S,
2层,,5层,没有走信号线,这个问题不大哦。(一开始我看了你的报告不像是6层板做出来的哦!!! 呵呵。。)
  LCD 和SD卡插座FFC线串BEAD+小电容到地看看,应该会有改善。这种结构的EMC通常出在这里。
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发表于 2010-7-27 11:20:33 | 显示全部楼层
哈哈,这么严重!
我看是你的LAYOUT太差了,USB差分线有没有做阻抗控制?如果可以的,在USB走线上加共模电感,磁珠之类的.还有USB线带磁环吗?
下次做的时候改变一下PCB 叠层看看1 TOP 2S 3GND 4VCC 5S 6BOTTOM
尽可能的把走线放在内层,外面两层少走线,用来铺地,以盖住内部的走线辐射信号出来。
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 楼主| 发表于 2010-7-27 09:15:55 | 显示全部楼层
谢谢,您的回答,单体在3M测试时OK。因公司资料,LAYOUT 不能外传。该LAYOUT 采用6层板,1-S,2-G,3-S,4-P,5-G,6-S,
1层,放主芯片,DDR2,NAND FLASH,6层部份电源,和SENSOR。2层,4层,5层,没有走信号线。LCD 和SD卡插座分别用FFC排线转接到另一块PCB上。主时钟,12MHZ,DDR2 CLK 108MHZ,SENSOR CLK 48MHZ
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发表于 2010-7-26 23:21:26 | 显示全部楼层
不知道单体是否一样超????个人感觉你的单体应该也是超,建议从你的PCB的地线入手。
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发表于 2010-8-5 10:44:45 | 显示全部楼层
兄台一定是没有听我的建议去实践看看~
你把SD卡去掉测试USB和TV模式看看
你的USB和TV模式下超标的频点几乎一样哦~
如果去掉SD卡 还是一样
你可以用示波器测试看看在USB和TV下是否关掉了LCD CLK~软体关断就好了
要找源头

还有你的对策公司肯定不会采纳的,加那么多磁环,一般的成本本来就低,加那么多磁环,一般的线材都是采购或者企划定制的,涉及很多人员,想要变更很难的,况且工艺成本提升了不少~~估计也来不急变料~
按周期算的话 这个测试也好些时候了~ 积极参与吧
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发表于 2010-8-13 15:24:49 | 显示全部楼层
在USB线路上加合适的BEAD来解决,注意考虑磁珠的特性曲线;[em02]
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发表于 2011-3-21 09:58:04 | 显示全部楼层
以下是引用jfl558604在2010-7-27 18:38:34的发言:
                看了你对LAUOUT 的简单描述,6层板,1-S,2-G,3-S,4-P,5-G,6-S,
2层,,5层,没有走信号线,这个问题不大哦。(一开始我看了你的报告不像是6层板做出来的哦!!! 呵呵。。)
                LCD 和SD卡插座FFC线串BEAD+小电容到地看看,应该会有改善。这种结构的EMC通常出在这里。

               

從頻率來看,不太像是有usb Noise的倍頻,就算有也只有少數2-3跟。所以,樓上講的不無道理,先前我也遇到過這樣的情況,不妨可以試一下。個人愚見,請勿見笑~~[em01][em01]
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 楼主| 发表于 2011-3-17 20:06:17 | 显示全部楼层
谢谢楼上的热心回答,该测试不过是读写SD卡引起的,测试时回放SD卡内的相片,就会出现,[em10]因能力太差,该问题还没解决.
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发表于 2011-3-17 11:58:51 | 显示全部楼层
arlene兄 说的在理 我就是不太注意 磁珠的特性曲线
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发表于 2011-6-9 12:13:25 | 显示全部楼层
没看懂,新手学习中!
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发表于 2011-6-16 16:10:52 | 显示全部楼层
兄弟,我看了你的测试报告,这个频点都是SD卡clk的倍频啊。。。加RC ....OK ....
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发表于 2011-7-20 16:24:33 | 显示全部楼层
针对 SD卡的CLK 带出干扰  靠近源端 加RC 调试 参数 可以 搞定
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