DCS1800 耦合测试频差超标严重

yms0201 · 发表于 2009-12-30 16:51:23

平台：MTK6235+MT6139
测试工具：耦合平板天线，CMU200
现象：DCS1800M时，频差超标严重，换不同的位置测试，都是超标（-3000HZ），而900M频差OK
目前处理措施：1。怀疑屏带来的干扰，用导电布全部包好，没有效果；
2。怀疑前壳（金属的）带来的二次干扰，去掉前壳测试，仍然有频差；
另外主板传导测试，900，1800频差都是OK的。

想请教各位有没有遇到这种现象，或者有啥建议？谢谢。

r-snake · 发表于 2009-12-31 01:18:43

以前在其他平台上遇到过类似的问题，有多种方面造成该现象，只能列举几个可能性较大的，提出一些实验方案来进行验证：

1、耦合平板天线测试是属于近场耦合测试，其测试结果受到天线的近场耦合现象、反馈耦合的影响，所以精确的耦合测试都不是以此为标准

对于此种可能，搂主可尝试在手机已经处于通话测试状态，将手机缓慢移动到平板天线上方一定的距离，然后观察，频率误差是否发生变化

如果属于此现象，建议安排在微波暗室进行试验，或至少在三角锥中进行试验

2、手机前端（Tranceiver之前的部分）反馈功率影响，Tranceiver之中的频率和成电路，即PA的反馈功率干扰到Tranceiver

对于此种可能，可在耦合测试时，降低手机发射功率级别PCL，观察频率误差是否变小（此类现象一般伴随相位误差增大，但楼主并未提供相关信息，所以无法判断）

如果属于此现象，可以调试Tranceiver到PA之间的匹配电路，或调适6139上一个Creg电容

3、Tranceiver晶体电路或者是供电被干扰，这种情况分为，持续稳定的平率误差超标，以及测试中瞬间超标

对于这种情况，可进行晶体替换，或者是Traceiver供电线路加强退耦（大小容值需要搭配）、串联电路去噪（串联0 ohm更换为磁珠）
另外就是Layout检查，注意Tranceiver的“地”！（其实最不想提的意见就是这一条了，太像“捣浆糊”的了！）

顺便问一下楼主的电路搭配方式是怎样的？
PA？PAM？厂家？型号？
[br]<p align=right><font color=red>+5 RD币</font></p>

yms0201 · 发表于 2009-12-31 15:27:54

多谢r-snake 的分析，PA我们用的是RDA6212+；
1。1800M下，通话状态，将手机远离平板天线，此时频差仍然存在，应该不是耦合板自身的特点引起的；
2。降低PCL，频差现象能够消除，但此时相位误差并无变差现象，与相位没有关系吧？
另外频率误差超标的现象它是持续稳定的超标的。

另外据MTK APP NOTE 说触摸屏接口需要加磁珠，防频差。“TP interface needs beads
to prevent Frequency Error
over spec!”
我们在设计初期用的0欧电阻时，900M，1800M都有频差，上了磁珠后，900M没有频差了，1800M仍然有，
还有就是塑料外壳时，1800M的频差要好很多。

ning0703 · 发表于 2009-12-31 16:50:35

关注一下，这个问题很有意思，以前好像也碰到过，但是主板没有改动过，只是改动了天线到主板上某一器件的距离，好像问题就搞定了，但是至于为什么会出这个问题，为什么近场耦合下会有这个问题，远场会不会延续这个问题，是什么导致了频率误差，干扰？还是其他什么方面？暂时没有理论支持，希望有高手能分析一二！！

fengmo44 · 发表于 2009-12-31 23:15:46

帮顶就不说什么了省的死胖子拍我

RF2 · 发表于 2010-1-2 14:15:38

同上，我也友情的帮顶一下。

xjtuknife · 发表于 2010-1-3 11:10:55

2#是大牛呀。
看看是不是电池的影响，使用假电试试。

cgh8020 · 发表于 2010-1-5 13:32:04

检查一下TP的走线，有可能是通过这个路径耦合到6235里面（6235的TP和AFC在一起），建议LZ吧磁珠加大看看，选个能滤高频段的磁珠

r-snake · 发表于 2010-1-5 16:00:38

厄，这样说起来

干扰的路径基本可以判断为：

天线辐射——tp——6235内部ADC——AFC电路or晶体电路

PS：tp作为接受天线干扰信号的原理，可以尝试理解tp的构造，以及工作原理。

楼主所说的在tp——6235之间添加磁珠，可以抑制900频段的频率误差，那么可以尝试替换不同抑制频段的磁珠，以观察改善效果。

另外，理论上，在整个干扰路径上退耦，都可以有效的消除干扰，只要干扰信号与有用信号处在不同的频段！

回到，楼主前期所作的改善尝试：

2。怀疑前壳（金属的）带来的二次干扰，去掉前壳测试，仍然有频差；
本文来自：我爱研发网(52RD.com) 详细出处：http://www.52rd.com/bbs/Detail_RD.BBS_176821_8_1_1.html

可以尝试，将前壳金属，四角接地，尤其是靠在近天线位置的tp顶部（直板机）或底部（翻盖机），加强屏蔽，应该会有一定作用。

yms0201 · 发表于 2010-1-6 14:45:17

关于磁珠，我们现在选用的是MURATA，BLM15HD182SN1, 1800ohm±25%@100M,2700ohm±40%@1G. 这个磁珠应该是MURATA最好的了吧？（GHz Range，For High Speed Signal，0402）
r-snake 可否帮忙看看是否还有更好的磁珠？能抑制1800M的？谢谢

liangsisi · 发表于 2010-1-6 16:48:14

我前几天做的一款机也出现跟你的情况差不多的，传导GSM/DCS都是OK的，但是耦合测试GSM是OK，DCS的频差在-2000左右，现在已经差不多解决了...
你可以试试这两种方法，看看会不会好一点
1.并一个100nh匹配，再串一个100pf的匹配
2.把DCS的功率降一些看看会不会好一点，
我的那个就是把DCS的功率降一些，频差就差不多OK了，现在已经开模了
[em08]

ylg1027 · 发表于 2010-1-19 01:11:03

换一下LDO试看，可能是用一了家不好供商的LDO了。我们家就遇到这样的问题。

mancini · 发表于 2010-2-4 11:31:55

2楼的是牛

navy1231 · 发表于 2010-2-4 17:04:59

xuexue !!!!!!!!!!!

jacksoncheng · 发表于 2010-2-23 16:03:48

继续学习进步[em02]

meijm2000 · 发表于 2010-2-23 16:49:27

路过~
以前遇到过类似的问题，请注意天线区域的器件和走线，是否有较多表层线。
关注摄像头等器件，可以将天线附近的器件全部去掉，如果有表层线可以尝试用铜皮接地屏蔽处理，看看效果。感觉通过天线附近表层数据线串扰的可能极大。

gook2009 · 发表于 2010-2-23 20:20:15

估计又是那该死的35平台惹的祸

我们好几个项目遇到过这个问题差点头疼死

都是tp的原因改板把tp那四根线包好地在在上面加磁珠

yunshi9015 · 发表于 2010-3-4 11:51:19

期待这样的高手指点，呵呵！

youxihenuaa · 发表于 2010-12-1 17:29:05

3q，学习了[em01]

fansloveting · 发表于 2010-12-2 11:17:58

TP=TEST POINT??小白飘过~

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