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[讨论] LDMOS管陶瓷封装和塑料封装在烧毁时,现象的区别,为什么?

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发表于 2009-9-26 22:00:21 | 显示全部楼层 |阅读模式
我做PA设计已经有6年多了,从以前使用freescale  cree  infeon NXP 等多家的LDMOS管,发现以前使用的是陶瓷封装的管子在自激或其它原因烧毁时,基本上都是烧毁栅极;而这两年随着该行业恶性竞争导致的成本压力,逐渐推出了塑料封装的LDMOS管子,却出现LDMOS管在自激或其它原因烧毁时,基本上都是烧毁漏极,甚至把管子封装都烧毁炭化,连PCB上的微线匹配铜箔和介质都烧毁了。

为什么陶瓷封装的LDMOS管子烧毁的是栅极,而塑料封装的都是烧毁漏极呢?
发表于 2009-9-28 01:02:32 | 显示全部楼层
栅极烧应该是Vgs过了,漏极坏的不好说,Vds也过了?漏极坏的见的不多:)
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发表于 2009-9-28 04:41:19 | 显示全部楼层

问一下FSL或NXP,可能就会更清楚了

LZ是怎么判断以前都是栅极烧毁的?

个人觉得如果ESD损坏,可能会在栅极。
但一般的大功率烧毁,还是在漏极。但你测试出来可能会是栅极对地断路。
其实这是漏极和栅极都已经损坏,在die上可以看到finger都已经烧黑一片。

由于FSL采用了mold-plastic的工艺,die烧毁会引起塑料的燃烧,有时会到明火出现在管子上,PCB也就会烧毁。
而陶瓷是air-cavity工艺,是不会起火的。
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发表于 2009-9-29 16:32:23 | 显示全部楼层
跟一下,学习
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发表于 2009-9-29 18:21:10 | 显示全部楼层
全新正品三菱、东芝、RENESAS等功放管
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