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[资料] 清华大学芯片测试讲义

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发表于 2009-1-6 10:30:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:0916@52RD_清华大学芯片测试讲义.rar
【格 式】:rar
【大 小】:1272K
【简 介】:集成电路测试与可测性设计方面的资料
【目 录】:

1.Fundamentals。ppt
2. CombinatioalTG.ppt
3. FaultSim.ppt
4. SequentialTG.ppt
5. MemoryTest.ppt
6. tm.ppt
7. dft.ppt
8. BoundaryScan.ppt
9. BIST.ppt
10. IDDQ.ppt



发表于 2010-7-30 16:31:27 | 显示全部楼层
我的RD币为什么总变啊
[em01], 才2RD币,是清华的吗
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发表于 2010-9-2 10:58:33 | 显示全部楼层
哎呀 好贵呀 清华的怎么了!!
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