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[讨论] 耦合测试中,RX 与 TIS 怎么换算?

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发表于 2008-11-20 10:09:27 | 显示全部楼层 |阅读模式
如题,耦合测试,RX在45左右,TIS一般有多少?
发表于 2008-11-23 22:33:38 | 显示全部楼层
[em13][em11]
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 楼主| 发表于 2008-11-27 15:38:14 | 显示全部楼层
[em01][em01][em01]我的问题好像大家都不感冒呀
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发表于 2008-11-27 18:58:34 | 显示全部楼层
这个要看你整机的干扰大小了!
正常状态下,手机的灵敏度不会超-105
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 楼主| 发表于 2008-12-6 17:23:15 | 显示全部楼层
你的-105怎么来的?根据经验得出的?[em13]
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发表于 2008-12-10 15:15:52 | 显示全部楼层
没有换算关系,RX是整机的接受能力,一并考虑干扰信号!
TIS是3D测试中考量天线在误码率小于2.44%的情况下的一个接收能力,排除了干扰。
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发表于 2008-12-10 15:17:32 | 显示全部楼层
45应该是cell power为-60dBm测试出来的!

本应该的是对照手机的传导rx测试干扰的,目前大家都省略了![em01][em01]
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 楼主| 发表于 2008-12-10 15:38:11 | 显示全部楼层
以下是引用wd0123在2008-12-10 15:15:52的发言:
没有换算关系,RX是整机的接受能力,一并考虑干扰信号!
TIS是3D测试中考量天线在误码率小于2.44%的情况下的一个接收能力,排除了干扰。

还是没看明白您的意思
1。RX的干扰是指板子上的干扰还是什么?这和传导测试的RX有什么区别?
2。TIS测试排除了什么干扰?
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发表于 2008-12-10 15:42:18 | 显示全部楼层
RX是连干扰信号一起测试,表示主板的接收能力。
TIS(3D)是和测试sensitivity(3D)相同,排除的辐射干扰和传导干扰。
2者有个关系是RX不高TIS一定不高。
RX高,TIS不一定高!
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