关于闭环功控的问题...

steve_kuo · 发表于 2008-10-20 11:08:04

最近做测试，经常有各个厂家不同型号的手机在闭环功控TPC1测试项上FAIL~
找了半天没有发现设置上或者仪表有什么问题...
后来无意间改了线损，由1.0改到1.2或者1.3，结果就PASS了。
于是把以前FAIL掉的机子都拿出来试，发现虽然值不一，但是只要把线损往上提，终归是会过的……
不明白为什么闭环功控会被这么小的线损所影响？~

请教大侠们~~~~[em01]

firstrate · 发表于 2008-10-24 13:10:12

个人觉得，功控本来就是功率的问题，你改了线损，就改变了发射功率，恰好就把功控的结果给拉到了正确的功率范围，即是在功控容限范围内

Tom128 · 发表于 2008-11-6 19:37:07

你是测的哪个test step不过？

fireman11011 · 发表于 2008-11-6 23:13:48

很多时候就是改线损值

steve_kuo · 发表于 2008-11-26 08:47:28

回TOM128:基本都在step1上

Tom128 · 发表于 2008-11-29 10:35:52

可能是PA发射功率过高，处于饱合状态，从而使PA的切换点发生偏移，所以闭环功控会出问题

Vanzotest · 发表于 2014-11-26 20:05:03

你说的线损具体指什么呢，是仪器的线损吗？
还望赐教

taile5770 · 发表于 2014-11-27 09:13:58

Tom128 发表于 2008-11-29 10:35
可能是PA发射功率过高，处于饱合状态，从而使PA的切换点发生偏移，所以闭环功控会出问题

有道理，要不然单独线损肯定是不影响内环的。

libo1991520 · 发表于 2014-11-28 11:23:56

闭环功控是发射的一个指标，主是决定是在于PA的一个发射性能的工作方式，你可以选择不用更改线损降低功率，可以将PA的工作电压在文件里面修改一下就可以了

lxb024 · 发表于 2014-12-7 15:15:34

学习中

lht526431211 · 发表于 2014-12-10 18:43:24

长知识了

sfp1024 · 发表于 2014-12-11 11:42:28

长知识了

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