( 求助)振动测试的方法

willis · 发表于 2005-8-31 11:30:00

首先说明的是:我不是要问振动测试的振幅和频率.时间等基本问题.
想知道大家在裸机振动中赋予机器的是一种什么样的状态:例如,是用固定夹具固定在测试台上,还是用有空间的盒子放在测试台上让其自由振动

Scott · 发表于 2005-8-31 11:34:00

拿胶带把手机绑在振动台上。

willis · 发表于 2005-8-31 12:01:00

我一般不会把它固定死,还给它一个自振的空间.其它人呢

fangsem · 发表于 2005-8-31 12:33:00

你说的是随机振动、正弦振动吗？还是马达振动寿命实验？你不说清楚我怎么帮你解决呀！

fangsem · 发表于 2005-8-31 12:35:00

样机不包装（整箱包装）、处于插卡通电待机状态，牢固在振动台面中心位置，裸机频率范围5~20Hz，谱密度为0.96m2/s3，20~500Hz，整箱频率范围5～20HZ，20～200HZ，斜率为–3dB(g2/Hz)，进行X、Y、Z三个方向，每个方向各振动半小时，持续试验时间：共1.5小时；

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willis · 发表于 2005-8-31 12:47:00

频率\振幅这方面的资料太多了.我说的是裸机振动.如果你用胶纸粘的话,说明的是,振动主要考虑到机器的是否掉网\掉卡\掉电(此处考虑去掉主板元器件的焊接不牢固,因为发生的几率太小了),但如果牢固粘贴或者绑在振动台上面,电池和接触点都被绑在一起了,如果掉电?此处就测量不到了啊.而且现在很多手机的设计,电池内壳有突起去顶住SIM卡防止掉网,也测试不到了呀[br]+3 RD币

Scott · 发表于 2005-8-31 14:17:00

大家对振动测试的理解有所不同，我们做振动测试主要还是看在这种状态下的相位误差和频率误差的，这是国标的要求，fangsem没有写全，后面还有关键的一句你没写。而你说的松动的问题我们是在跌落试验中检测的，跌落中的冲击远比振动来得大，所以能更好的发现这些问题，而用户使用中出现这些问题也主要是跌落引起的。[br]+2 RD币

willis · 发表于 2005-8-31 14:30:00

其实GB只是对产品的最基本的要求.而且测试的也不完全详细.我们在实际测试中往往对加如一些自己的理解来测试.例如说你刚才说的 ,国标是在测振动对其指标的影响.所以振幅比较小,很小的 .但我们在实际工作中还要测试一些其它的项目,例如我说的掉电\掉网.而这些是它最基本的一些要求,但在国标中没有体现.这点对手机可靠性很重要呀.而跌落不可能测试到瞬间掉电的.因为跌落中是允许电池脱落的(实际测试中发现,如果很不允许电池脱落,电池扣受力会更大,很容易跌坏)而电池扣发生不可恢复的损坏,则跌落就FAIL了.你们认为呢????[br]+3 RD币

Scott · 发表于 2005-8-31 20:59:00

从用户的角度来看，跌落不管是电池松动还是卡扣损坏都是不允许的，你不能因为电池扣会损坏而故意使电池脱落吧，这两者完全是可以同时达到要求的。正因为国标是个基本要求，所以要在内部实际执行时在它的基础上更严格的把握。而我认为跌落比振动更能反应实际使用的情况，特别是像掉电这个情况，瞬态的冲击越大才更容易掉电呀。[br]+5 RD币

willis · 发表于 2005-9-1 08:27:00

错的,结构研发人员有时是故意为了使电池扣不会损坏而把扣位减短,是跌落中电池脱离手机.而CTA,FTA测试是允许电池脱落的.[br]+3 RD币

Scott · 发表于 2005-9-1 11:23:00

这是典型的为了通过测试而设计产品，你觉得这合理吗？昨天看了一篇文章很多人说DOPOD的手机各种各样的问题，其中有一条待机时间超短，是呀CTA不测待机时间的，你是不是也觉得应该是这样的呢？[br]+3 RD币

fangsem · 发表于 2005-9-1 12:40:00

在跌落过程中出现掉电不识别或是电池脱落有以下说明:1 在可接受的跌落次数中,掉电是可以接受的2 在可接受的跌落次数中,不识卡现象,如果开机可以恢复,也是可以接受的,当然稳定的不识卡,是不能够接受的.不识卡一般原因都是焊接工艺不良或是主板不良造成.3 电池脱落,只要没有出现电池泄露,冒烟等现象,也是可以接受的[br]+3 RD币

willis · 发表于 2005-9-1 16:43:00

<DIV class=quote>以下是引用Scott在2005-9-1 11:23:35的发言：
这是典型的为了通过测试而设计产品，你觉得这合理吗？昨天看了一篇文章很多人说DOPOD的手机各种各样的问题，其中有一条待机时间超短，是呀CTA不测待机时间的，你是不是也觉得应该是这样的呢？</DIV>

不,这个概念是完全不同的,待机时间是必须为用户考虑到的方面,是硬件测试方面的问题.而跌落电池掉,是完全用户可以接受的,例如你把手机掉了,电池脱落,你完全可以重新装上.而且不会介意这个问题.而且这也是为你的手机着想呀.你愿意接受电池掉出来还是愿意接受电池扣断而去返修呢[br]+5 RD币

Scott · 发表于 2005-9-1 20:23:00

为什么一定会不是电池掉出来就是电池扣断呢？你就不能做到电池既不掉，电池扣也不断吗？[br]+3 RD币

willis · 发表于 2005-9-2 08:32:00

<DIV class=quote>以下是引用Scott在2005-9-1 20:23:39的发言：
为什么一定会不是电池掉出来就是电池扣断呢？你就不能做到电池既不掉，电池扣也不断吗？</DIV>

理论上讲是不可能实现的

Scott · 发表于 2005-9-2 10:50:00

<DIV class=quote>以下是引用willis在2005-9-2 8:32:38的发言：

理论上讲是不可能实现的</DIV>

不会吧，CTA时大多手机还是能跌落时既不电池扣断也不会电池脱离的。你们公司的结构设计人员的能力太成问题了。[br]+3 RD币

人仰马翻 · 发表于 2005-9-14 14:36:00

用固定夹具固定在测试台上做随机振动，分X，Y，Z方向[br]+3 RD币

hdragonfly · 发表于 2006-4-18 11:39:00

<DIV class=quote>以下是引用fangsem在2005-8-31 12:35:00的发言：
样机不包装（整箱包装）、处于插卡通电待机状态，牢固在振动台面中心位置，裸机频率范围5~20Hz，谱密度为0.96m2/s3，20~500Hz，整箱频率范围5～20HZ，20～200HZ，斜率为–3dB(g2/Hz)，进行X、Y、Z三个方向，每个方向各振动半小时，持续试验时间：共1.5小时；

+3 RD币</DIV>

fangsem说的"裸机频率范围5~20Hz，谱密度为0.96m2/s3，20~500Hz，"后面的"20~500Hz"这里是什么意思,谱密度是多少呢？每个方向各振动半小时是怎样的严酷等级？
大家说的随机振动标准是哪个,GB2423.??

请教。

mobiletester · 发表于 2006-4-20 23:21:00

一般研发阶段裸机都是测试正弦震动,包装才测试随机震动吧.这两种情况比较符合实际情况.对于跌落我觉得微跌比较能模拟实际的使用情况.[br]+1 RD币

yclwwp · 发表于 2006-4-29 13:33:00

跌落是跌落试验，主要验证手机的整机抗摔能力，注重于整体的可靠性 振动试验，主要是针对电子电路部分的，比如Speaker、Microphone、马达天新的接触是否良好，SMT零件是否有控焊等来作的试验，两者各有侧重。

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