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[硬件测试资料] 高頻元件量測技術

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发表于 2008-6-23 15:16:18 | 显示全部楼层 |阅读模式
【文件名】:08623@52RD_高頻元件量測技術.doc
【格　式】:doc
【大　小】:669K
【简　介】:目前针对高频组件的特性量测，主要可概分为测试夹具法(Test Fixture Measurement)及晶圆级量测法(On - Wafer Measurement)两种，各有其需要及优缺点，兹介绍如下：
1 .测试夹具法：
【目　录】:


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