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[讨论] 自由场MIC和压力场MIC的区别

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发表于 2008-6-2 19:14:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
在做音频测试时,有时候用到自由场,有时候用到压力场,
有哪位可以讲讲二者的区别么?
发表于 2008-6-4 11:15:37 | 显示全部楼层
自由场mic一般是做环境测试的,一般需要配合硬件,测出来的数据是假装自己不在那里时,该位置的声压。有修正的。

咱们都用压力场就好了。
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发表于 2008-6-12 10:16:04 | 显示全部楼层
楼上的解释的能不能详细点
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发表于 2008-6-12 17:33:44 | 显示全部楼层
當麥克風架設於音場之中,麥克風本身會影響音場並改變聲壓值,依據音場的差異以及麥克風的型式,某些影響非常的微小可忽略不計;但是也有可能會造成量測上的誤差,誤差值可能高達幾個分貝,因此這些影響必須加以評估。

在自由音場中,麥克風架設於此音場會干擾音場之聲壓。原因是麥克風在音場中會產生反射聲波,在相同的量測點上,加諸於麥克風薄膜上的壓力與未受麥克風干擾音場的壓力不同。此二壓力的比率與麥克風薄膜直徑、聲波波長的比率有關,因此其對於高頻部分的聲壓影響較大。

麥克風本體對於音場的影響可利用量測頻譜再經由後處理做補償,或是將此補償內建於麥克風中。自由音場型式麥克風即具有此補償功能,所以在一般的自由音場下其聲壓有平坦的頻率響應。

在壓力音場中,為了量測如小密閉空間等壓力音場,麥克風通常架設於壁上。因為麥克風薄膜的剛性較牆壁面小,因此聲壓會影響薄膜而得以量測聲壓值。而麥克風對於此音場的影響與密閉空間的尺寸大小、形狀以及薄膜的阻抗有關。

壓力音場型式麥克風薄膜表面壓力愈均勻,其輸出電壓愈平坦,頻率響應特性愈好,用於自由音場時,必須和聲音傳播方向垂直,讓聲音僅掠過麥克風前端。
[br]<p align=right><font color=red>+3 RD币</font></p>
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 楼主| 发表于 2008-7-14 21:29:22 | 显示全部楼层
谢谢[em01]
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发表于 2008-7-15 21:17:19 | 显示全部楼层
4楼说的个人感激有点疑问吧……
在自由场(最好的效果就是消声室吧)中,mic的体积以及其反射等影响不会影响到测试效果的,做试验人站在消声室mic旁边,音响发音,对灵敏度、曲线都机会没有影响,何况一小小mic?
而说到压力场,有墙,墙面的反射难道比mic的反射小吗?
个人见解,请指正。
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发表于 2008-7-19 14:52:21 | 显示全部楼层
bu dong
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发表于 2008-7-21 17:35:06 | 显示全部楼层
以下是引用yingtao19在2008-7-15 21:17:19的发言:
4楼说的个人感激有点疑问吧……
在自由场(最好的效果就是消声室吧)中,mic的体积以及其反射等影响不会影响到测试效果的...............


这个,还是要慎重一点。

从感性的角度讲,mic的保护壳都会影响频响,在振膜附近的结构的影响比较大吧。
(假设)你站在消声室对频响没影响,并不代表距离振膜只有1mm的地方那个直径只有1mm的小米粒对频响也没影响。
上述为我的猜想,没做过实验。请指正。
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发表于 2008-7-22 15:18:12 | 显示全部楼层
??????
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发表于 2008-8-28 13:33:06 | 显示全部楼层
你所说的 自由场与压力场我不太懂,
其实麦克风分声压和声场的两种。
至于区别嘛,嘿嘿,简单了,
声压的是测试测试处的实际的声压的,
声场的是测试测试处的点的声压的。
所以在相同的情况下同一只MIC声场
的灵敏度可能可能大于声压的,因为MIC干扰了声场。
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发表于 2008-9-3 12:55:42 | 显示全部楼层
学习一下。
有一个疑问,除了自由场mic内置了补偿之外,自由场mic和压力场mic还有其他方面的固有差异吗?
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发表于 2008-9-11 23:39:54 | 显示全部楼层
测试receiver一般在压力场,需要用4192的MIC装上type1,3.2,3.3,3.4等人工耳程在LRGP或HATS来进行耦合测试;而测试speaker可以用自由场测试一般在无响室中,把speaker置于baffle板上用4191的MIC直接在5cm或10cm或30cm外测试。区别的主要原因是两者使用方式不同。一个是紧贴耳,一个是自由场。
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发表于 2008-9-11 23:51:10 | 显示全部楼层
以下是引用yingtao19在2008-7-15 21:17:19的发言:
4楼说的个人感激有点疑问吧……
在自由场(最好的效果就是消声室吧)中,mic的体积以及其反射等影响不会影响到测试效果的,做试验人站在消声室mic旁边,音响发音,对灵敏度、曲线都机会没有影响,何况一小小mic?
而说到压力场,有墙,墙面的反射难道比mic的反射小吗?
个人见解,请指正。


个人感觉mic的反射对自由场测试效果影响不大,因为其他如mic和测试的支架应该也存在一定的反射。
但是对人工嘴进行校正时,使用的自由场mic是垂直于声音方向的,这也许有4楼所说的原因吧。
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发表于 2008-9-15 13:01:25 | 显示全部楼层
我說的很清楚啊
6樓大概只看聲壓值而不管頻率分析後造成的結果, 在某些頻帶外在物體確實會對頻譜造成影響.
樓上有點說錯, 校正時使用B&K 4192或是相當的mic, 是壓力場型式mic, 所以校正時垂直於人工嘴.
4192mic同時使用於type1人工耳, 密閉空間, mic放在空間邊緣.
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发表于 2008-9-17 17:26:48 | 显示全部楼层
还是不明白
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