手机藕合测试时相位误差大的问题

luojiayou · 发表于 2008-5-25 12:59:09

　　现在遇到一个问题，想请教一下各位．问题是这样的，手上一款机器，耦合测试时发现相位误差很大，检查ＰＣＢ　layout时发现，基带屏蔽盖和射频屏蔽盖在天线附近，而这两个屏蔽盖的接地都很差,下面走了很多线,这两个屏蔽盖基本上有很大部分没有接地.我把其中的射频屏蔽盖去掉后再测试,发现相位误差就下来了,或者把射频屏蔽盖和基带屏蔽盖用导电铜箔连起来也是可以的.很明显天线辐射信号受到了这两个屏蔽盖的影响,但其中究竟是如何影响的?请各位大侠指教一下.

luojiayou · 发表于 2008-5-27 22:38:55

等了两天了　也没人回答　失望

bvflash · 发表于 2008-5-28 12:14:04

杂散的问题传导杂散发射和辐射杂散发射都是通过屏蔽盖来屏蔽的如果屏蔽做的不好杂散肯定会影响天线的性能. 你将2个屏蔽盖连在一起相当于增加了接地面积（=一个屏蔽盖），可能导致你的 phase eror偏低。[em01][em01]

luojiayou · 发表于 2009-5-4 17:48:26

我再来回答一下我自己的问题吧。
我认为是这样的，天线辐射功率被屏蔽盖接收到，由于屏蔽盖接地不好，这个信号就没有被导到大地上去，可能这个能量被屏蔽盖本身又辐射了出去，辐射频率和屏蔽盖的尺寸有关系，者个辐射能量被收发部分接收进去了，干扰到了里面的VCO或PLL或MIXER，从而导致了PE的问题。请大家指教。

wd0123 · 发表于 2009-5-9 14:31:32

我认为是你的屏蔽没有做好，下板的整体环境出现了干扰造成的，这个建议修改外围电路进行改进，或者在布板时考虑2个屏蔽罩之间的等电位（多点接触）。

wxlycy · 发表于 2009-5-26 23:28:12

[em01]

hello614 · 发表于 2009-6-15 21:54:29

走过，路过，学过...

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