请教：手机耦合测试的环境

禺强

现在一般的手机设计公司都会用耦合测试来验证天线的性能。但是能建立起暗室的，使用远场测量的比较少，一般都会采用平板天线，或是准tem波塔。这些环境对gsm还算是好点，但是对dcs是在是不稳定，一次一个样，很难做出判断，不知道各位大侠是怎么做的，如何才能得到相对准确，稳定的结论呢？
tao.h@tom.com
taohuang372@hotmail.com[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>

titan_jiang

<P>关注中，为什么对DCS会不稳定？ 楼主知道为什么嘛？》</P>

chbm2008986

<P>同感!!</P>

RF110

<P>等待高人</P>

iseee

TEM cell里经常会出现一个频段如GSM 或者DCS里的各信道之间功率变化很大的情况，有时在平板藕荷器里测又没有这个问题
所以总的来说这两个藕荷测试仪器只能起到一个参考的作用，并不能准确说明问题。[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>

easychen

<P>拿Nokia的机子在TEM CELL里面测过，按照说明书给的补偿,其发射和接收也一般。</P><P>我看TEM CELL测试的主要问题是其中的场不能满足远场测试条件，并且在空间辐射分布的波动也比较大,只能进行对比测试。</P><P>曾经做过下内置天线的测试,不同的摆放方法，在TEM CELL中测出来的结果差别很大。</P>[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>

wave

耦合测试,因需用平板天线，对于内置天线，若平板天线离代测天线很近，谐振频率会向低处偏移。当手机放置不同位置，结果会不一样。[br]<p align=right><font color=red>+1 RD币</font></p>

tianshui

<P>耦合测试,因需用平板天线，对于内置天线，若平板天线离代测天线很近，谐振频率会向低处偏移。当手机放置不同位置，结果会不一样。</P><P>加点：移动平板藕合器及手机的位置多测几次，取最高DBM效果会好点
</P><P align=right><FONT color=red></FONT> </P><P align=right><FONT color=#ff0000></FONT> </P>

asjade

<P>平板没有用过，不太清楚。</P><P>Tescom的锥箱倒是用过。锥形箱是个金字塔型，实际上是一个谐振腔。在塔底部平面中心附近有那么一个区域是近似TEM波。由于GSM频段波长较长，相比锥箱尺度是可以比拟的，因此锥箱就不容易激发出高次模式，单一模式的谐振场使得测GSM是手机测量值比较稳定可靠，不太受待测手机放置位置等因素干扰。</P><P>而DCS高频段波长短了一倍还多，锥形箱里就可能激发出高次模式，且准TEM区域过小。因此测DCS就不可能准。</P><P>我猜测，如果单独为DCS频段开发一个尺寸和形状的谐振腔体，可能可以保证较大的准TEM区域，且接近远场测量。</P><P>但是毕竟锥箱无法和模拟自有空间的无回波暗室相比。例如手机后向辐射从腔体壁发射回去和前向辐射干涉怎么半，是否影响到测试准确性。这些就需要设计锥箱的人来解释了。</P>

禺强

我觉得楼上的说得很有道理。对于dcs，因为波长很短，因此进场区域大，我觉得一般的箱式屏蔽盒，都在他的近场区与内，参数不好预测，因此很难得到准确的值。我们现在都是到天线厂家的暗室中去测。

晓晓

都说偶合测试只是作为一种参考，那到底有多大的参考价值呢？

sunny-007

<P>耦合测试只能是在手机产线上测试手机的一致性，因为用的天线是同一批天线．所以这样可以起到一定的参考价值，但是如果作为验证不同的天线性能的话，则不太可取．因为不同的天线的方向性是不同的，耦合测试无法准确的测出天线的整体性能．耦合板更不可取，是耦合测试中最不准确也是最不科学的．因为它测试出来的数据根本无法分辨出天线的好坏．即使在暗室功率只有十几ＤＢ的天线，在那上面也有可能测出有３０ＤＢ以上．基本上没有什么实用价值．最多是勉强手机产线上测试．</P>

shibaoxiang

我也有同感！用锥测试值和在暗室测试值GSM还比较接近，DCS差异很大，这个问题看来应该是锥的问题，另外 不论TX 还是RX level 对不同的频点（512 698 885）差异太大，这个不知是锥的问题还是手机的问题，开门和关门测试值也差别很大这也是锥的问题吗？还有门上为什么不加吸波泡面？我的确对Tescom的这款产品疑问颇多，不知各位有何高见？

woaichimantou

我是小白，多多指教