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[硬件测试资料] 测试系统中干扰及其形成机理

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发表于 2008-4-19 07:23:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
随着国民经济和社会生产的迅速发展,测试系统已经广泛应用到科学研究和生产实践的各个领域。由于存在干扰,它对测试系统的稳定度和精确度受到了直接的影响,严重时可使测试系统不能正常工作。因此,从系统的设计、制造、使用方式以及工作环境等各个方面都不得不优先考虑抗干扰问题。所以对干扰的研究是测试技术的重要课题。


1 来自测试系统外部的干扰
2 来自测试系统的内部的干扰
【文件名】:08419@52RD_测试系统中干扰及其形成机理.doc
【格 式】:doc
【大 小】:36K
【简 介】:
【目 录】:


发表于 2008-4-19 10:31:05 | 显示全部楼层
为什么看不见图片
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发表于 2010-9-24 20:00:23 | 显示全部楼层
我顶一个
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发表于 2011-10-1 20:03:14 | 显示全部楼层

支持一下

好帖子,要支持,如果是原创就要加精啊。。。
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