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[讨论] MIC外壳凹槽问题

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发表于 2007-12-12 13:16:27 | 显示全部楼层 |阅读模式
请教下高手:
我采用底部带凹槽的外壳做后灵敏度普遍比不带凹槽的低,其他材料环境参数都不变,这是为什么?
发表于 2007-12-13 08:39:39 | 显示全部楼层
可以组成声道内部回路,使音膜2端声压正负衰减一部分,虽然灵敏度降低,但是可以增加产品对温度的稳定性能。
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发表于 2007-12-22 11:12:17 | 显示全部楼层
可以组成声道内部回路,使音膜2端声压正负衰减一部分,虽然灵敏度降低,但是可以增加产品对温度的稳定性能。

增加產品對溫度的穩定性能,能不能解釋詳細點。
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发表于 2007-12-22 15:51:49 | 显示全部楼层
外壳底部的凹槽是均压用的。业界都较均压槽吧……主要为了防止焊接时的内外气压对振膜的影响。
请高手指教……
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发表于 2007-12-24 08:54:24 | 显示全部楼层
2、3楼说的不错,再详细一点就是,
1.不加均压槽时,灵敏度是话筒音膜外面压强与音膜后面的制作时的大气压强的差值
2.加了均压槽后因为膜前后的大气压相同,那么灵敏度就是膜自己的振幅作用了,同时由于声道内部回路,使音膜前后也同时都受到声压的作用(只是有相位差),产生了一部分的抵消。
3.加了均压槽后因为膜前后的大气压相同,(同上原因)那么低频部分可能有所下降。

很明显,如果你的环境参数没变,那么与振膜的状态有关,如果控制好了,灵敏度差异很小,但是通过你的结果来看至少你的测试环境与制作环境的气压与温度,很明显不同(环境没有控制好);而且你的工艺也多少有一点偏差(两种MIC制作完成后振膜的状态不一样)。
个人理解[em01],请各位大侠们指教。[em06]
[此贴子已经被作者于2007-12-24 9:25:15编辑过]

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