边界扫描技术介绍

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【文件名】:071121@52RD_Boundary Scan测试定义和简介.doc
【格　式】:doc
【大　小】:764K
【简　介】:随着芯片功能、封装技术、PCB制造技术的不断发展，传统的电路测试方法遇到巨大的困难。不同于传统的通过探针的物理接触而进行测试的方法，边界扫描在IC的“核心逻辑”和引脚间插入移位寄存器链监测、控制IC的输入输出，进行测试。本文主要描述了Boundary Scan的测试定义、基本功能，以及Boundary Scan测试理论的一些简单介绍
【目　录】:

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