ES620 便携式TLP IV-曲线测试分析系统是2015年研发的新一代产品。这是一套先进的便携式脉冲IV曲线表征系统，用于模拟静电放电脉冲事件，例如TLP，Vf-TLP，HMM，HBM，EFT，以及低压浪涌。该系统可以监测脉冲发生时，Ps或ns量级的瞬态电压和电流波形，并测试DUT在测试前、后的状态（漏电流、击穿电压、静态IV曲线等）。可测试的DUT包括静电防护器件、半导体、电路模块、触摸板传感器等。 系统的传输线脉冲（TLP）测试和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014测试标准。ES620系统能够向器件注入高质量矩形波脉冲，同时记录流经器件的电流和器件两端电压。测试结果能够提供脉冲IV曲线，使用户能够表征器件在纳秒级的瞬态响应。系统还具有先进的器件失效自动化检测方法，例如漏电流测试，静态IV曲线，熔断和火花放电。 超快TLP（vf-TLP）测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007测试标准。vf-TLP 测试用于模拟CDM速度的静电放电，捕捉高速（大约100ps上升沿）状态下器件的电流和电压。用户可以通过这种方法测试器件的响应速度和峰值电压。 人体金属模型（HMM）测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.6-2009测试方法。该方法可以替代IEC61000-4-2中系统级ESD测试方法，用于测试IC。当测试低阻抗器件或者晶圆时，系统的该测试功能可以提供符合IEC61000-4-2标准的理想波形，并且避免许多静电放电枪测试时可能出现的问题，例如可重复性差，放电位置不精确，由未屏蔽继电器产生的EMI互扰，需要设置大接地平板和耦合板。 系统有完整的软件控制，可定制上升沿时间和脉冲宽度，与IVI仪器有良好的兼容性，体积小，价格优惠。

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